Browsing by Author "Пантелеев, К. В."
Now showing items 21-40 of 101
-
Зарядочувствительный сканирующий зондовый микроскоп для непрерывного неразрушающего контроля поверхности трения
Пантелеев, К. В. (БНТУ, 2015)Пантелеев, К. В. Зарядочувствительный сканирующий зондовый микроскоп для непрерывного неразрушающего контроля поверхности трения / К. В. Пантелеев // Форум проектов программ Союзного государства. IV форум вузов инженерно-технологического профиля : сборник материалов форума, 9-14 ноября 2015 года, [Минск] / Белорусский национальный технический университет [и др.]. - Минск : БНТУ, ...2016-03-18 -
Зондовые электрометрические методы для измерения удельного электрического сопротивления ионно-легированных и диффузионных слоев
Тявловский, А. К.; Воробей, Р. И.; Гусев, О. К.; Жарин, А. Л.; Пантелеев, К. В.; Петлицкий, А. Н.; Пилипенко, В. А.; Свистун, А. И.; Тявловский, К. Л. (БНТУ, 2019)Зондовые электрометрические методы для измерения удельного электрического сопротивления ионно-легированных и диффузионных слоев / А. К. Тявловский [и др.] // Приборостроение-2019 : материалы 12-й Международной научно-технической конференции, 13–15 ноября 2019 года, Минск, Республика Беларусь / редкол.: О. К. Гусев (председатель) [и др.]. – Минск : БНТУ, 2019. – С. 36-38.2020-01-03 -
Изменение зарядового состояния поверхности полимерных композиционных материалов под действием внешних факторов
Пантелеев, К. В.; Воробей, Р. И.; Тявловский, А. К.; Гусев, О. К.; Жарин, А. Л. (БНТУ, 2022)В работе рассмотрены методики экспериментальных исследований изменения зарядового состояния поверхности полимерных композиционных материалов под действием внешних факторов (оптического излучения) с использованием зарядочувствительного зонда в режиме сканирования поверхности.2022-12-28 -
Измерение пространственного распределения высоковольтного электростатического потенциала полимерных материалов цифровым зондом Кельвина
Пантелеев, К. В.; Дубаневич, А. В.; Жарин, А. Л.; Кравцевич, А. В.; Шашура, Л. И. (БНТУ, 2016)Измерение пространственного распределения высоковольтного электростатического потенциала полимерных материалов цифровым зондом Кельвина / К. В. Пантелеев [и др.] // Приборостроение-2016 : материалы 9-й международной научно-технической конференции, Минск, 23-25 ноября 2016 г. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. – Минск, 2016. – С. 110-112.2017-03-11 -
Измерение электрического потенциала поверхности с использованием статического зонда
Воробей, Р. И.; Гусев, О. К.; Жарин, А. Л.; Микитевич, В. А.; Пантелеев, К. В.; Самарина, А. В.; Свистун, А. И.; Тявловский, А. К.; Тявловский, К. Л. (БНТУ, 2023)Методы контроля изменений электрического потенциала поверхности широко используются в операциях неразрушающего контроля прецизионных поверхностей, например, в электронной промышленности в процессе изготовления полупроводниковых приборов. Целью работы является расширение области применения методик бесконтактного контроля и измерения электрического потенциала поверхности на основе ...2023-08-15 -
Интегрированные системы управления светодиодным освещением на базе LED-драйверов
Костина, Г. А.; Пантелеев, К. В.; Свистун, А. И. (БНТУ, 2017)Костина, Г. А. Интегрированные системы управления светодиодным освещением на базе LED-драйверов / Г. А. Костина, К. В. Пантелеев, А. И. Свистун // Новые направления развития приборостроения : материалы 10-й международной научно-технической конференции молодых ученых и студентов, Минск, 26−28 апреля 2017 г. : в 2 т. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. ...2017-06-19 -
Интеллектуальный сенсор для измерительных систем, работающих по схеме синусоидальное возбуждение – отклик
Микитевич, В. А.; Свистун, А. И.; Самарина, А. В.; Пантелеев, К. В.; Жарин, А. Л. (БНТУ, 2023)Измерительные приборы и системы, содержащие датчики, требующие синусоидальное возбуждающее воздействие, широко используются в информационно-измерительной технике как в производственных условиях, так и в исследовательской практике. В качестве примеров можно привести различные типы металлоискателей, вихретоковые дефектоскопы, анализаторы жидких сред, электрометры с динамическим ...2023-04-13 -
Исследование поверхности материалов цифровым зондом Кельвина
Пантелеев, К. В.; Тявловский, А. К.; Гусев, О. К.; Воробей, Р. И.; Свистун, А. И.; Жарин, А. Л. (ВГТУ, 2017)В работе приводятся результаты экспериментальных исследований с использованием цифровых зондов Кельвина, предназначенных для систем зондового картирования пространственного распределения работы выхода электрона.2022-08-11 -
Исследование полимерных материалов зарядочувствительным методом
Пантелеев, К. В.; Кривогуз, Ю. М.; Жарин, А. Л. (БНТУ, 2015)Пантелеев, К. В. Исследование полимерных материалов зарядочувствительным методом / К. В. Пантелеев, Ю. М. Кривогуз, А. Л. Жарин // Приборостроение-2015 : материалы 8-й международной научно-технической конференции, Минск, 25-27 ноября 2015 г. : в 2 т. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. – Минск, 2015. – Т. 1. - С. 134-136.2016-10-04 -
Исследование процессов деградации лакокрасочных покрытий зондовым зарядочувствительным методом
Микитевич, В. А.; Пантелеев, К. В.; Жарин, А. Л. (БНТУ, 2021)Исследованы процессы деградации лакокрасочного покрытия на металлической подложке при воздействии раствора соли. Анализ поверхности выполнен зондовым зарядочувствительным методом. Получены карты распределения потенциала поверхности. Выявлена корреляция между потенциалом поверхности и типом дефекта лакокрасочного покрытия.2022-02-02 -
Исследования пространственного распределения статического потенциала поверхностей трения металлополимерных сопряжений
Пантелеев, К. В.; Тявловский, А. К.; Жарин, А. Л. (БНТУ, 2014)Пантелеев, К. В. Исследования пространственного распределения статического потенциала поверхностей трения металлополимерных сопряжений / К. В. Пантелеев, А. К. Тявловский, А. Л. Жарин // Приборостроение-2014 : материалы 7-й Международной научно-технической конференции (19–21 ноября 2014 года, Минск, Республика Беларусь) / ред. колл.: О. К. Гусев [и др.]. – Минск : БНТУ, 2014. – ...2015-03-17 -
Исследования сплошности покрытий из графита и политетрафторэтилена на металле сканирующим методом динамического конденсатора
Пантелеев, К. В.; Жарин, А. Л. (БНТУ, 2015)Пантелеев, К. В. Исследования сплошности покрытий из графита и политетрафторэтилена на металле сканирующим методом динамического конденсатора / К. В. Пантелеев, А. Л. Жарин // Новые направления развития приборостроения : материалы 8-й Международной научно-технической конференции молодых ученых и студентов / редкол.: О. К. Гусев [и др.]. – Минск : БНТУ, 2015. – С. 6.2022-08-24 -
Исследования функциональных свойств многослойных материалов-конструкций на основе термопластов зарядочувствительными методами
Пантелеев, К. В. (БНТУ, 2017)Пантелеев, К. В. Исследования функциональных свойств многослойных материалов-конструкций на основе термопластов зарядочувствительными методами / К. В. Пантелеев // Наука – образованию, производству, экономике : материалы 15-й Международной научно-технической конференции. - Минск : БНТУ, 2017. - Т. 2. - С. 224.2018-04-03 -
Комплексное исследование новых функциональных материалов с использованием зарядочувствительных методов контроля
Пантелеев, К. В.; Тявловский, А. К. (БНТУ, 2015)Пантелеев, К. В. Комплексное исследование новых функциональных материалов с использованием зарядочувствительных методов контроля / К. В. Пантелеев, А. К. Тявловский // Наука – образованию, производству, экономике : материалы 13-й Международной научно-технической конференции. - Минск : БНТУ, 2015. - Т. 2. - С. 175.2016-03-04 -
Контроль качества оптических металлических поверхностей, обработанных по технологии алмазного наноточения, по распределению работы выхода электрона
Шаронов, Г. В.; Жарин, А. Л.; Мухуров, Н. И.; Пантелеев, К. В. (БНТУ, 2015)Контроль качества оптических металлических поверхностей, обработанных по технологии алмазного наноточения, по распределению работы выхода электрона / Г. В. Шаронов [и др.] // Приборостроение-2015 : материалы 8-й международной научно-технической конференции, Минск, 25-27 ноября 2015 г. : в 2 т. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. – ...2016-10-04 -
Контроль качества отражающих оптических поверхностей высшего класса чистоты методами зондовой электрометрии
Тявловский, А. К.; Жарин, А. Л.; Пантелеев, К. В.; Свистун, А. И.; Мухуров, Н. И.; Шаронов, Г. В. (БНТУ, 2017)Контроль качества отражающих оптических поверхностей высшего класса чистоты методами зондовой электрометрии / А. К. Тявловский [и др.] // Приборостроение - 2017 : материалы 10-й Международной научно-технической конференции, 1-3 ноября 2017 года, Минск, Республика Беларусь / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. - Минск : БНТУ, 2017. - С. 81-83.2018-02-01 -
Контроль металлических поверхностей, обработанных алмазным наноточением, по работе выхода электрона
Шаронов, Г. В.; Жарин, А. Л.; Мухуров, Н. И.; Пантелеев, К. В. (БНТУ, 2015)Технология размерной обработки резанием базируется на использовании интегральных геометрических параметров поверхности твердого тела. Технологическое воздействие резца приводит к процессам окисления и изменению физико-химических параметров поверхности. Для описания характеристик обработки и формирования сверхгладких поверхностей контроль геометрических параметров оказывается ...2015-12-30 -
Контроль параметров границы раздела кремний-двуокись кремния после быстрой термообработки методами исследования вольтфарадных характеристик и зондовой электрометрии
Жарин, А. Л.; Гусев, О. К.; Воробей, Р. И.; Пантелеев, К. В.; Тявловский, А. К.; Тявловский, К. Л.; Пилипенко, В. А.; Солодуха, В. А. (БНТУ, 2018)Контроль параметров границы раздела кремний-двуокись кремния после быстрой термообработки методами исследования вольтфарадных характеристик и зондовой электрометрии / А. Л. Жарин [и др.] // Приборостроение-2018 : материалы 11-й Международной научно-технической конференции, 14-16 ноября 2018 года, Минск, Республика Беларусь / редкол.: О. К. Гусев (председатель) [и др.]. – Минск : ...2019-04-17 -
Контроль свойств функциональных слоев микроэлектронных структур
Хилько, А. Н.; Фолынсков, Д. И.; Гусев, О. К.; Пантелеев, К. В. (БНТУ, 2020)Контроль свойств функциональных слоев микроэлектронных структур / А. Н. Хилько [и др.] // Новые направления развития приборостроения : материалы 13-й Международной научно-технической конференции молодых ученых и студентов, 15−17 апреля 2020 г. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев (пред. редкол.) [и др.]. – Минск : БНТУ, 2020. – С. 95.2020-06-24 -
Малогабаритный аналоговый измеритель контактной разности потенциалов
Микитевич, В. А.; Пантелеев, К. В.; Жарин, А. Л. (БНТУ, 2016)Микитевич, В. А. Малогабаритный аналоговый измеритель контактной разности потенциалов / В. А. Микитевич, К. В. Пантелеев, А. Л. Жарин // Приборостроение-2016 : материалы 9-й международной научно-технической конференции, Минск, 23-25 ноября 2016 г. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. – Минск, 2016. – С. 97-99.2017-03-10