Аникеев, С. В. Особенности моделирования режима сканирования по дальности в двухкоординатном измерителе со сверхбыстрым сканированием луча / С. В. Аникеев, В. А. Куренев // Наука – образованию, производству, экономике : материалы 14-й Международной научно-технической конференции. - Минск : БНТУ, 2016. - Т. 1. - С. 215.