Now showing items 1-3 of 3

    • Интерферометр для контроля плоской или сферической поверхности 

      Дидковская, Н. В.; Фёдорцев, Р. В.; Дидковский, Я. И.; Луговик, А. Ю. (2009)
      Интерферометр для контроля плоской или сферической поверхности : пат. 12565 Респ. Беларусь : МПК(2006) G01B9/02, G01B11/24 / Н В. Дидковская [и др.] ; заявитель Белорусский национальный технический университет ; дата публ.: 2009.10.30.
      2019-10-07
    • Спектрофотометр 

      Дидковский, Я. И.; Дидковская, Н. В.; Федорцев, Р. В. (2009)
      Спектрофотометр : пат. 11966 Респ. Беларусь : МПК(2006) G01J3/42 / Я. И. Дидковский, Н. В. Дидковская, Р. В. Федорцев ; заявитель Белорусский национальный технический университет ; дата публ.: 2009.06.30.
      2019-10-07
    • Устройство для магнитно-абразивной обработки плоской поверхности детали 

      Фёдорцев, Р. В.; Хомич, Н. С.; Пасевич, П. И.; Луговик, А. Ю.; Кухто, П. В.; Власенко, Е. П.; Дидковский, Я. И. (2008)
      Устройство для магнитно-абразивной обработки плоской поверхности детали : пат. 11337 Респ. Беларусь : МПК(2006) B24B31/00 / Р. В. Фёдорцев [и др.] ; заявитель Белорусский национальный технический университет ; дата публ.: 2008.12.30.
      2019-09-30