Now showing items 1-12 of 12

    • Nd3+:KG(WO4)2 лазер с ВКР преобразованием в режиме пассивной модуляции добротности 

      Демеш, М. П.; Кисель, В. Э.; Ясюкевич, А. С.; Кулешов, Н. В.; Курильчик, С. В.; Руденков, А. С.; Гусакова, Н. В.; Ивашко, А. М. (БНТУ, 2014)
      В данной работе представлен твердотельный лазер, работающий в режиме пассивной модуляции добротности с ВКР преобразованием.
      2015-03-23
    • Исследование спектроскопических характеристик лазерного кристалла Er3+:NaBi(MoO4)2 

      Гусакова, Н. В.; Демеш, М. П.; Ясюкевич, А. С.; Кисель, В. Э.; Кулешов, Н. В.; Курильчик, С. В.; Руденков, А. С.; Ивашко, А. М. (БНТУ, 2014)
      Исследование спектроскопических характеристик лазерного кристалла Er3+:NaBi(MoO4)2 / Н. В. Гусакова [и др.] // Приборостроение-2014 : материалы 7-й Международной научно-технической конференции (19–21 ноября 2014 года, Минск, Республика Беларусь) / ред. колл.: О. К. Гусев [и др.]. – Минск : БНТУ, 2014. – С. 278-279.
      2015-03-23
    • Калибровка функции коэффициента пропускания люминесцентной установки 

      Демеш, М. П.; Гусакова, Н. В.; Ясюкевич, А. С.; Кисель, В. Э.; Кулешов, Н. В.; Курильчик, С. В.; Руденков, А. С.; Ивашко, А. М. (БНТУ, 2014)
      Калибровка функции коэффициента пропускания люминесцентной установки / М. П. Демеш [и др.] // Приборостроение-2014 : материалы 7-й Международной научно-технической конференции (19–21 ноября 2014 года, Минск, Республика Беларусь) / ред. колл.: О. К. Гусев [и др.]. – Минск : БНТУ, 2014. – С. 284-285.
      2015-03-23
    • Масштабирование выходной мощности непрерывного Yb:YAG микрочип-лазера для измерительных систем 

      Ивашко, А. М.; Кисель, В. Э.; Кулешов, Н. В. (БНТУ, 2017)
      Усовершенствованию характеристик лазеров для использования в измерительных приборах уделяется большое внимание. Одним из перспективных направлений по уменьшению массогабаритных характеристик и энергопотребления для твердотельных лазеров является использование диодной накачки и микрочип-конфигурации резонатора. Увеличение выходной мощности при сохранении качества лазерного пучка ...
      2017-09-04
    • Метод определения положения фокальной плоскости фокусирующих компонентов 

      Ивашко, А. М.; Кисель, В. Э.; Кулешов, Н. В. (БНТУ, 2017)
      При изготовлении лазерных систем часто измеряют характеристики лазерного излучения по методу фокального пятна, для которого необходимо установить систему регистрации в фокальной плоскости фокусирующего компонента. Целью данной работы являлась разработка нового принципа установки матричного фотоприемника в фокальную плоскость фокусирующего компонента и лазерного излучателя для ...
      2017-03-02
    • Непрерывный Yb:YAG лазер для портативных измерительных систем 

      Ивашко, А. М.; Кисель, В. Э.; Ясюкевич, А. С.; Кулешов, Н. В. (БНТУ, 2014)
      Представлены результаты теоретического и экспериментального исследования генерационных характеристик лазера с продольной непрерывной диодной накачкой на кристалле Yb:Y3Al5O12 (YAG) для портативных измерительных систем, работающих в полевых условиях. Проведена оптимизация параметров элементной базы лазера с точки зрения его работы в диапазоне температур от -40 °С до +65 °С без ...
      2014-12-17
    • Непрерывный Yb:YAG лазер для систем, работающих в условиях механических нагрузок в широком температурном диапазоне без принудительной термостабилизации 

      Ивашко, А. М.; Кисель, В. Э.; Ясюкевич, А. С.; Кулешов, Н. В.; Демеш, М. П.; Руденков, А. С.; Гусакова, Н. В. (БНТУ, 2014)
      Непрерывный Yb:YAG лазер для систем, работающих в условиях механических нагрузок в широком температурном диапазоне без принудительной термостабилизации / А. М. Ивашко [и др.] // Приборостроение-2014 : материалы 7-й Международной научно-технической конференции (19–21 ноября 2014 года, Минск, Республика Беларусь) / ред. колл.: О. К. Гусев [и др.]. – Минск : БНТУ, 2014. – С. 306-307.
      2015-03-23
    • Непрерывный тулиевый микрочип лазер с диодной накачкой, излучающий в области 1,95 мкм 

      Гусакова, Н. В.; Демеш, М. П.; Демеш, А. С.; Кисель, В. Э.; Кулешов, Н. В.; Курильчик, С. В.; Ивашко, А. М. (БНТУ, 2016)
      Непрерывный тулиевый микрочип лазер с диодной накачкой, излучающий в области 1,95 мкм / Н. В. Гусакова [и др.] // Приборостроение-2016 : материалы 9-й международной научно-технической конференции, Минск, 23-25 ноября 2016 г. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. – Минск, 2016. – С. 302-303.
      2017-03-27
    • Прибор для контроля направления оси лазерного излучения 

      Чиркун, И. С.; Добрияник, В. М.; Ивашко, А. М. (БНТУ, 2016)
      Чиркун, И. С. Прибор для контроля направления оси лазерного излучения / И. С. Чиркун, В. М. Добрияник, А. М. Ивашко // Новые направления развития приборостроения : материалы 9-й международной научно-технической конференции молодых ученых и студентов, Минск, 20–22 апреля 2016 г. : в 2 т. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. – Минск, ...
      2016-09-23
    • Разработка фемтосекундного лазера, излучающего в области длин волн около 1 мкм с длительностью импульса менее 100 фс 

      Руденков, А. С.; Кисель, В. Э.; Демеш, М. П.; Гусакова, Н. В.; Ивашко, А. М.; Ясюкевич, А. С.; Кулешов, Н. В. (БНТУ, 2014)
      В данной статье представлены результаты разработки фемтосекундного Yb3+:KY(WO4)2 работающего лазера в режиме пассивной синхронизации мод с длительностью импульса менее 100 фс.
      2015-03-25
    • Твердотельные Yb:YAG микрочип лазеры для систем дистанционного управления движущимися объектами 

      Ивашко, А. М. (2017)
      Ивашко, А. М. Твердотельные Yb:YAG микрочип лазеры для систем дистанционного управления движущимися объектами [Электронный ресурс] : диссертация ... канд. техн. наук : 05.11.07 / А. М. Ивашко ; Белорусский национальный технический университет. – Минск, 2017.
      2020-04-04
    • Твердотельные Yb:YAG микрочип лазеры для систем дистанционного управления движущимися объектами 

      Ивашко, А. М. (2017)
      Разработка и изготовление лазеров, работающих в режиме непрерывной генерации с выходной мощностью в несколько ватт в спектральной области около 1 мкм, является тривиальной задачей при работе в лабораторных условиях. Однако при значительном колебании температур и воздействии ударных и вибрационных нагрузок возникает ряд проблем с работоспособностью системы и со стабильностью ее ...
      2018-06-08