Browsing by Author "Ковалев, А. И."
Now showing items 1-4 of 4
-
Программное обеспечение для установки бесконтактного измерения микроволновых параметров небольших образцов материалов
Поклонский, Н. А.; Сягло, А. И.; Шнитко, В. Т.; Ковалев, А. И. (БНТУ, 2014)В данной работе представлено краткое описание программы для сопряжения специализированного контроллера с ПК. Программа разработана в пакете Borland C++.2015-03-17 -
Расчет статических параметров кремниевого диода, содержащего в симметричном p–n-переходе δ-слой точечных трехзарядных дефектов
Поклонский, Н. А.; Ковалев, А. И.; Горбачук, Н. И.; Шпаковский, С. В. (БНТУ, 2018)Научный и практический интерес представляет изучение полупроводниковых материалов и приборов с узким слоем атомов примесей и/или собственных точечных дефектов кристаллической решетки. Цель работы – рассчитать электрические параметры симметричного кремниевого диода, в плоском p–n-переходе которого сформирован δ-слой точечных трехзарядных t-дефектов. Такой диод называется p–t–n-диодом, ...2018-06-18 -
Управление энергоэффективностью
Ковалев, А. И. (БНТУ, 2019)Ковалев, А. И. Управление энергоэффективностью / А. И. Ковалев ; науч. рук. С. В. Измайлович // Модернизация хозяйственного механизма сквозь призму экономических, правовых, социальных и инженерных подходов [Электронный ресурс] : сборник материалов XV Международной научно-практической конференции, Минск, 21 ноября 2019 г. / редкол.: C. Ю. Солодовников (председатель) [и др.]. – ...2020-02-13 -
Экспресс-методика бесконтактного измерения электрических параметров небольших образцов на сверхвысоких частотах
Поклонский, Н. А.; Сягло, А. И.; Шнитко, В. Т.; Меркулов, В. А.; Давиденя, М. О.; Ковалев, А. И. (БНТУ, 2013)Разработана установка с отражательным СВЧ-резонатором типа H101 для бесконтактного измерения электрических параметров небольших (диаметром 5 мм) образцов. Получено аналитическое выражение для расчета коэффициента отражения мощности СВЧ-излучения H101-резонатором с находящимся в нем образцом в зависимости от диэлектрической проницаемости и электропроводности образца. Экспериментально ...2013-12-02