Now showing items 1-2 of 2

    • Влияние абразивных материалов на качество аналитических поверхностей при подготовке образцов для спектрального анализа 

      Лагойская, М. В. (БНТУ, 2020)
      Рассматривается возможность загрязнения поверхности образцов стали абразивными материалами при подготовке проб для определения химического состава на оптико-эмиссионных спектрометрах [1]. В стандартах на методы подготовки образцов подробно описаны способы обработки поверхности, используемые материалы, требования к качеству анализируемой поверхности. Поверхность образца можно ...
      2020-10-09
    • Влияние качества подготовки образцов на результаты спектрального анализа 

      Лагойская, М. В. (БНТУ, 2019)
      Рассматривается возможность анализа образцов малых диаметров без применения специальных адаптеров для определения химического состава на спектрометрах. Проведение измерений ограничивается размерами отверстия на аналитическом столике, которое составляет 12 мм. Соответственно все анализируемые образцы должны иметь диаметр не менее 14 мм для полного перекрытия пробой крышки разрядной ...
      2020-01-17