Now showing items 1-2 of 2

    • Оптимизация электрических характеристик 100 нм МОП-транзистора 

      Чан, Туан Чунг; Нелаев, В. В.; Стемпицкий, В. Р. (БНТУ, 2012)
      Чан, Туан Чунг. Оптимизация электрических характеристик 100 нм МОП-транзистора / Туан Чунг Чан, В. В. Нелаев, В. Р. Стемпицкий // Новые направления развития приборостроения : материалы 5-й Международной студенческой научно-технической конференции, 18-20 апреля 2012 г. / редкол.: О. К. Гусев [и др.]. – Минск : БНТУ, 2012. – С. 191.
      2022-09-22
    • Устройство для испытания плоских образцов на релаксацию напряжений при изгиб 

      Лепин, Г. Ф.; Нелаев, В. В.; Белькович, А. С.; Самсонов, Б. В.; Рогозянов, А. Я.; Лосев, Н. П. (1983)
      Устройство для испытания плоских образцов на релаксацию напряжений при изгиб : а. с. 1033916 СССР : МПК3 G01N 3/20 / Г. Ф. Лепин [и др.] ; заявитель Белорусский ордена Трудового Красного Знамени политехнический институт ; дата публ.: 07.08.1983.
      2020-10-23