Browsing by Author "Пантелеев, К. В."
Now showing items 1-20 of 112
-
Адаптивный привод окна и жалюзи для «Умной аудитории»
Микитевич, В. А.; Свистун, А. И.; Воробей, Р. И.; Тявловский, К. Л.; Пантелеев, К. В. (БНТУ, 2022)В рамках учебной аудитории по проекту «Умный класс» разработаны системы автоматическое управления жалюзи и открывания окна. Приведены основные принципы управления электроприводами.2022-12-28 -
Алгоритм управления сканированием в системах зондовой электрометрии
Костина, Г. А.; Пантелеев, К. В.; Свистун, А. И.; Тявловский, К. Л.; Самарина, А. В.; Кондратьева, Н. К. (БНТУ, 2018)Алгоритм управления сканированием в системах зондовой электрометрии / Г. А. Костина [и др.] // Приборостроение-2018 : материалы 11-й Международной научно-технической конференции, 14-16 ноября 2018 года, Минск, Республика Беларусь / редкол.: О. К. Гусев (председатель) [и др.]. – Минск : БНТУ, 2018. – С. 103-104.2019-04-17 -
Алгоритмы обработки визуализированных изображений при картировании дефектов полупроводниковых пластин
Тявловский, А. К.; Жарин, А. Л.; Гусев, О. К.; Воробей, Р. И.; Тявловский, К. Л.; Пантелеев, К. В.; Микитевич, В. А.; Пилипенко, В. А.; Петлицкий, А. Н. (БНТУ, 2016)Алгоритмы обработки визуализированных изображений при картировании дефектов полупроводниковых пластин / А. К. Тявловский [и др.] // Приборостроение-2016 : материалы 9-й международной научно-технической конференции, Минск, 23-25 ноября 2016 г. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. – Минск, 2016. – С. 391-393.2017-04-04 -
Анализ дефектов поверхности исходных подложек алюминия и его сплавов методом сканирующего зонда Кельвина
Тявловский, А. К.; Жарин, А. Л.; Гусев, О. К.; Воробей, Р. И.; Мухуров, Н. И.; Шаронов, Г. В.; Пантелеев, К. В. (БНТУ, 2017)В настоящее время использование методов зондовой электрометрии в неразрушающем контроле сдерживается сложностью интерпретации результатов измерений, что связано с многофакторностью измерительного сигнала, зависящего от большого количества параметров физико-химического состояния поверхности: отклонений химического состава, механических напряжений, дислокаций, кристаллографической ...2017-03-02 -
Анализ карт распределения электростатического потенциала и поверхностной фотоЭДС нанокомпозитных полимеров на основе ПЭВД
Пантелеев, К. В.; Тявловский, А. К.; Кравцевич, А. В.; Жарин, А. Л. (БНТУ, 2017)Анализ карт распределения электростатического потенциала и поверхностной фотоЭДС нанокомпозитных полимеров на основе ПЭВД / К. В. Пантелеев [и др.] // Приборостроение - 2017 : материалы 10-й Международной научно-технической конференции, 1-3 ноября 2017 года, Минск, Республика Беларусь / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. - Минск : ...2018-01-31 -
Анализ методов и приборов контроля качества светодиодных осветителей
Мелюх, Н. С.; Борбат, М. С.; Пантелеев, К. В.; Воробей, Р. И. (БНТУ, 2024)Анализ методов и приборов контроля качества светодиодных осветителей / Н. С. Мелюх [и др.] // Новые направления развития приборостроения : материалы 17-й Международной научно-технической конференции молодых ученых и студентов, 17-19 апреля 2024 года, Минск, Республика Беларусь / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев (пред. редкол.) [и др.]. – ...2024-05-27 -
Анализ распределения электрофизических и фотоэлектрических свойств нанокомпозитных полимеров модифицированным зондом Кельвина
Пантелеев, К. В.; Кравцевич, А. В.; Ровба, И. А.; Лысенок, В. И.; Воробей, Р. И.; Гусев, О. К.; Жарин, А. Л. (БНТУ, 2017)В настоящее время для анализа однородности свойств материалов широкое распространение получают различные модификации сканирующего зонда Кельвина, позволяющие картировать пространственное распределение электростатического потенциала поверхности. В случае диэлектриков анализ однородности электропотенциального профиля не является достаточным для описания каких-либо конкретных ...2017-12-15 -
Анализ требований к характеристикам светодиодных осветительных приборов
Борбат, М. С.; Мелюх, Н. С.; Пантелеев, К. В.; Жарин, А. Л. (БНТУ, 2024)Анализ требований к характеристикам светодиодных осветительных приборов / М. С. Борбат [и др.] // Новые направления развития приборостроения : материалы 17-й Международной научно-технической конференции молодых ученых и студентов, 17-19 апреля 2024 года, Минск, Республика Беларусь / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев (пред. редкол.) [и др.]. ...2024-05-27 -
Анализ факторов, влияющих на формирование электропотенциального рельефа в условиях пластического течения деформации
Пантелеев, К. В.; Микитевич, В. А.; Воробей, Р. И.; Свистун, А. И.; Крень, А. П.; Мацулевич, О. В.; Жарин, А. Л. (БНТУ, 2023)В работе рассмотрены методики экспериментальных исследований изменения распределения работы выхода электрона поверхности (контактной разности потенциалов) металлических материалов различной твердости от степени деформирования. В качестве средств измерений используется сканирующая модификация зарядочувствительного зонда, разработанного в Белорусском национальном техническом ...2023-12-21 -
Анализ эффектов накопления заряда в диэлектрическом материале в процессе внешнего воздействия
Микитевич, В. А.; Борбат, М. С.; Пантелеев, К. В.; Воробей, Р. И.; Жарин, А. Л. (БНТУ, 2023)В работе рассмотрены некоторые эффекты накопления заряда в диэлектрическом материале в процессе внешнего воздействия. Приводятся результаты и обсуждение экспериментальных исследований особенностей распределения поверхностного электростатического потенциала образца волокнисто-пористого политетрафторэтилена, полученного методом лазерной абляции.2023-12-21 -
Аппаратно-программный комплекс для неразрушающего контроля скрытых дефектов диэлектриков методами зондовой электрометрии
Жарин, А. Л.; Пантелеев, К. В. (БНТУ, 2015)Жарин, А. Л. Аппаратно-программный комплекс для неразрушающего контроля скрытых дефектов диэлектриков методами зондовой электрометрии / А. Л. Жарин, К. В. Пантелеев // Наука – образованию, производству, экономике : материалы 13-й Международной научно-технической конференции. - Минск : БНТУ, 2015. - Т. 2. - С. 174.2016-03-04 -
Бесконтактная регистрация пространственного распределения и динамики изменения во времени электрического потенциала поверхности диэлектрических материалов
Жарин, А. Л.; Пантелеев, К. В. (БНТУ, 2017)Жарин, А. Л. Бесконтактная регистрация пространственного распределения и динамики изменения во времени электрического потенциала поверхности диэлектрических материалов / А. Л. Жарин, К. В. Пантелеев // Наука – образованию, производству, экономике : материалы 15-й Международной научно-технической конференции. - Минск : БНТУ, 2017. - Т. 2. - С. 226.2018-04-03 -
Беспроводные системы управления освещением
Грищенко, А. Н.; Судникевич, В. В.; Пантелеев, К. В. (БНТУ, 2017)Грищенко, А. Н. Беспроводные системы управления освещением / А. Н. Грищенко, В. В. Судникевич, К. В. Пантелеев // Новые направления развития приборостроения : материалы 10-й международной научно-технической конференции молодых ученых и студентов, Минск, 26−28 апреля 2017 г. : в 2 т. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. – Минск, 2017. ...2017-06-19 -
Визуализация распределения электропотенциала поверхности
Ардашев, Д. С.; Закорко, Н. В.; Пантелеев, К. В.; Гусев, О. К. (БНТУ, 2020)Визуализация распределения электропотенциала поверхности / Д. С. Ардашев [и др.] // Новые направления развития приборостроения : материалы 13-й Международной научно-технической конференции молодых ученых и студентов, 15−17 апреля 2020 г. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев (пред. редкол.) [и др.]. – Минск : БНТУ, 2020. – С. 100-101.2020-06-24 -
Детектирование периодического усталостного разрушения поверхностных слоев металлических материалов при трении методом Кельвина
Жарин, А. Л.; Пантелеев, К. В.; Свистун, А. И. (ВГТУ, 2018)C использованием непрерывного неразрушающего контроля трущейся поверхности методом Кельвина экспериментально обнаружены периодические изменения ее работы выхода электрона (РВЭ). Исследования комплексом независимых методов показали, что периодические изменения РВЭ являются следствием усталостных процессов, протекающих в относительно толстых подповерхностных слоях, т.е., по сути, ...2019-11-25 -
Дефектоскопия полимерных композиционных материалов методами зондовой электрометрии
Пантелеев, К. В.; Тявловский, А. К.; Свистун, А. И.; Жарин, А. Л.; Самарина, А. В. (Белорусско-Российский университет, 2016)В работе приводятся методические и экспериментальные результаты исследований влияния светового воздействия на изменение электронной подсистемы полимерных композиционных материалов. В качестве средств контроля применен сканирующий зонд Кельвина. Методика контроля основана на анализе неоднородности электропотенциального профиля и пространственного распределения фото-ЭДС.2021-04-28 -
Диагностика локальных изменений пластической деформации по работе выхода электрона
Пантелеев, К. В.; Свистун, А. И.; Жарин, А. Л. (БНТУ, 2015)Рассмотрены вопросы измерения работы выхода электрона по контактной разности потенциалов и экспериментально обоснована возможность применения этих методов для оценки напряженно-деформированного состояния поверхностных слоев металлов и сплавов. Разработаны методики и приведены примеры их применения для исследования локализации пластической деформации с применением зонда Кельвина. ...2015-07-24 -
Диагностика узлов трения методом контактной разности потенциалов
Жарин, А. Л.; Пантелеев, К. В.; Свистун, А. И. (Белорусско-Российский университет, 2014)Целью работы является модификация конденсаторного метода Кельвина для построения бесконтактных встраиваемых датчиков диагностики состояния узлов трения в процессе эксплуатации.2020-10-06 -
Зарядочувствительный метод исследований напряженно-деформированного состояния поверхностных слоев металла при нагружении
Жарин, А. Л.; Пантелеев, К. В.; Дубаневич, А. В. (ВГТУ, 2015)Жарин, А. Л. Зарядочувствительный метод исследований напряженно-деформированного состояния поверхностных слоев металла при нагружении / А. Л. Жарин, К. В. Пантелеев, А. В. Дубаневич // Перспективные материалы и технологии: междунар. симпозиум посвящен 40-летию ИТА НАН Беларуси, Витебск, 27-29 мая 2015 : сб. материалов симпозиума. – Витебск, 2015. – С.267-270.2020-11-12 -
Зарядочувствительный метод исследования деформационных процессов
Пантелеев, К. В.; Микитевич, В. А.; Свистун, А. И.; Воробей, Р. И.; Гусев, О. К.; Жарин, А. Л. (БНТУ, 2022)В качестве информационного параметра об изменении состояния материала под действием механических напряжений может быть использован поверхностный электростатический потенциал (заряд). Целью работы являлась отработка методик исследования деформационных процессов в металлических и полимерных материалах с использованием зарядочувствительного метода. Проведены экспериментальные ...2022-12-29