Browsing by Author "Плескачевский, Ю. И."
Now showing items 1-7 of 7
-
Изготовить лабораторный макет установки измерения электростатических потенциалов композиционных материалов и разработать методику проведения испытаний экспериментальных образцов
Воробей, И. В.; Воробей, Р. И.; Гусев, О. К.; Дубаневич, А. В.; Жарин, А. Л.; Плескачевский, Ю. И.; Свистун, А. И.; Тявловский, А. К.; Шадурская, Л. И.; Яржембицкая, Н. В. (2010)Объектом исследования являлись схемотехнические и конструктивные решения установки измерения электростатического потенциала и методы формирования восстановленных изображений пространственного распределения электрического потенциала поверхности, методики измерений параметров пространственного распределения электрического потенциала поверхности. Целью исследования являлось обоснование ...2012-06-13 -
Использование сканирующего зонда кельвина для контроля дефектов металлических поверхностей
Плескачевский, Ю. И.; Тявловский, А. К. (БНТУ, 2011)Плескачевский, Ю. И. Использование сканирующего зонда кельвина для контроля дефектов металлических поверхностей / Ю. И. Плескачевский, А. К. Тявловский // Новые направления развития приборостроения : материалы 4-й Международной студенческой научно-технической конференции, 20-22 апреля 2011 г. : конференция посвящается 90-летию Белорусского национального технического университета ...2021-03-10 -
Исследование структурных превращений поверхностного слоя после высокоэнергетического воздействия методом сканирующего зонда Кельвина и разработка методов и средств оценки физико-механического состояния поверхности
Воробей, И. В.; Воробей, Р. И.; Гусев, О. К.; Дубаневич, А. В.; Плескачевский, Ю. И.; Свистун, А. И.; Тявловский, А. К.; Тявловский, К. Л.; Шадурская, Л. И.; Шостак, Е. П.; Яржембицкая, Н. В. (2010)Объектом исследования в данной работе является поверхность образцов после высокоэнергетического воздействия. Цель работы - исследование структурных превращений поверхностного слоя после высокоэнергетического воздействия методом сканирующего зонда Кельвина и разработка методов и средств оценки физико-механического состояния поверхности. Исследования проводили на пластинчатых ...2012-06-12 -
Многофункциональный контроллер сбора данных и управления измерительными приборами
Дубаневич, А. В.; Лукинов, К. А.; Плескачевский, Ю. И. (2011)Объектом исследования является способы ввода экспериментальных данных в персональный компьютер. Цель работы – создание новых средств измерений, основанных на взаимодействии устройств измерения с замещающей объект контроля моделью и исполнительными подсистемами, превосходящих по своим технико-экономическим характеристикам существующие на отечественном рынке аналоги и пригодные для ...2012-03-27 -
Разработка экспериментального образца устройства для экспрессной диагностики многослойной изоляции элементов конструкции летательных аппаратов
Ананчиков, И. А.; Воробей, И. В.; Воробей, Р. И.; Дубаневич, А. В.; Жарин, А. Л.; Плескачевский, Ю. И.; Свистун, А. И.; Тявловский, А. К.; Тявловский, К. Л.; Шадурская, Л. И.; Шостак, Е. П.; Яржембицкая, Н. В. (2010)Объектом исследования являлось обоснование совокупности параметров приповерхностных областей конструктивных элементов летательных аппаратов, оказывающих влияние на электрическую заряженность поверхности в процессе изготовления и эксплуатации, и методы неразрушающей экспрессной диагностики состояния поверхности конструктивных элементов летательных аппаратов, в том числе, с ...2012-06-13 -
Создание и исследование полупроводниковых структур с магнитооптическим переключением электрических и оптических характеристик
Воробей, И. В.; Воробей, Р. И.; Дубаневич, А. В.; Жарин, А. Л.; Плескачевский, Ю. И.; Свистун, А. И.; Тявловский, А. К.; Тявловский, К. Л.; Шадурская, Л. И.; Яржембицкая, Н. В. (2010)Объектом исследования являлись полупроводниковые приборы с расширенными функциональными возможностями на базе узкозонных полупроводниковых материалов и приборных структур металл-полупроводник-металл с использованием полупроводников с многозарядными примесями. Целью исследования являлся анализ характеристик фотоэлектрических полупроводниковых преобразователей в условиях комбинированного ...2012-06-14 -
Установка для исследования электрических характеристик смазывающе-охлаждающих жидкостей
Плескачевский, Ю. И.; Жарин, А. Л. (БНТУ, 2011)Плескачевский, Ю. И. Установка для исследования электрических характеристик смазывающе-охлаждающих жидкостей / Ю. И. Плескачевский, А. Л. Жарин // Новые направления развития приборостроения : материалы 4-й Международной студенческой научно-технической конференции, 20-22 апреля 2011 г. : конференция посвящается 90-летию Белорусского национального технического университета (БПИ - ...2021-03-10