Now showing items 1-1 of 1

    • Контроль свойств функциональных слоев микроэлектронных структур 

      Хилько, А. Н.; Фолынсков, Д. И.; Гусев, О. К.; Пантелеев, К. В. (БНТУ, 2020)
      Контроль свойств функциональных слоев микроэлектронных структур / А. Н. Хилько [и др.] // Новые направления развития приборостроения : материалы 13-й Международной научно-технической конференции молодых ученых и студентов, 15−17 апреля 2020 г. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев (пред. редкол.) [и др.]. – Минск : БНТУ, 2020. – С. 95.
      2020-06-24