| dc.contributor.author | Новаш, И. В. | |
| dc.contributor.author | Романюк, Ф. А. | |
| dc.contributor.author | Румянцев, В. Ю. | |
| dc.contributor.author | Румянцев, Ю. В. | |
| dc.coverage.spatial | Минск | ru |
| dc.date.accessioned | 2021-12-13T13:43:25Z | |
| dc.date.available | 2021-12-13T13:43:25Z | |
| dc.date.issued | 2021 | |
| dc.identifier.citation | Испытания микропроцессорных токовых защит: теория, моделирование, практика / И. В. Новаш [и др.]. – Минск : БНТУ, 2021. – 168 с. | ru |
| dc.identifier.isbn | 978-985-583-726-9 | |
| dc.identifier.uri | https://rep.bntu.by/handle/data/108163 | |
| dc.description.abstract | В монографии рассматриваются вопросы теории, математического моделирования, практических приемов испытаний микропроцессорных токовых защит и их моделей с помощью испытательных установок и компьютерных программных комплексов. Монография рассчитана на научных сотрудников и инженерно-технический персонал энергосистем, будет полезна преподавателям, аспирантам, магистрантам и студентам вузов. | ru |
| dc.language.iso | ru | ru |
| dc.publisher | БНТУ | ru |
| dc.title | Испытания микропроцессорных токовых защит: теория, моделирование, практика | ru |
| dc.type | Book | ru |
