| dc.contributor.author | Ефименко, С. А. | ru |
| dc.contributor.author | Кособуцкая, Н. В. | ru |
| dc.coverage.spatial | Минск | ru |
| dc.date.accessioned | 2022-02-02T08:10:23Z | |
| dc.date.available | 2022-02-02T08:10:23Z | |
| dc.date.issued | 2021 | |
| dc.identifier.citation | Ефименко, С. А. Модернизация метода тестирования мощной интегральной микросхемы или полупроводникового прибора в диапазоне температур = Modernization of the method of testing a powerful integrated circuit or semiconductor device in the temperature range / С. А. Ефименко Н. В. Кособуцкая // Приборостроение-2021 : материалы 14-й Международной научно-технической конференции, 17-19 ноября 2021 года, Минск, Республика Беларусь / редкол.: О. К. Гусев (председатель) [и др.]. – Минск : БНТУ, 2021. – С. 60-62. | ru |
| dc.identifier.uri | https://rep.bntu.by/handle/data/109648 | |
| dc.description.abstract | Тестирование – это измерение электрических параметров микросхем и полупроводниковых приборов и проведение функционального контроля микросхем. Поскольку мощные микросхемы и полупроводниковые приборы являются тепловыделяющими, их тестирование должно проводиться с учетом перегрева кристалла. В работе рассмотрены возможные способы их тестирования, в том числе учитывающие перегрев кристалла. | ru |
| dc.language.iso | ru | ru |
| dc.publisher | БНТУ | ru |
| dc.title | Модернизация метода тестирования мощной интегральной микросхемы или полупроводникового прибора в диапазоне температур | ru |
| dc.title.alternative | Modernization of the method of testing a powerful integrated circuit or semiconductor device in the temperature range | ru |
| dc.type | Working Paper | ru |
| local.description.annotation | Testing is the measurement of electrical parameters of microcircuits and semiconductor devices and carrying out functional control of microcircuits. Since high-power chips and semiconductor devices are heatgenerating, their testing should be carried out taking into account the overheating of the crystal. The paper considers possible ways of testing them, including taking into account the overheating of the crystal. | ru |
