Show simple item record

dc.contributor.advisorЧижик, С. А.
dc.contributor.authorЛапицкая, В. А.
dc.coverage.spatialМинскru
dc.date.accessioned2022-07-07T13:24:32Z
dc.date.available2022-07-07T13:24:32Z
dc.date.issued2022
dc.identifier.citationЛапицкая, В. А. Контроль трещиностойкости керамических материалов и покрытий с применением атомно-силовой микроскопии и наноиндентирования [Электронный ресурс] : автореферат диссертации ... канд. техн. наук : 05.11.01 / В. А. Лапицкая ; Белорусский национальный технический университет. – Минск, 2022.ru
dc.identifier.urihttps://rep.bntu.by/handle/data/113900
dc.description.abstractТрадиционно для количественного определения длины трещин после воздействия индентора используется оптическая (ОМ) и сканирующая электронная микроскопия (СЭМ). Применение метода атомно-силовой микроскопии (АСМ) для точного детектирования параметров картин деформации и определения вида трещин вокруг отпечатка позволит изучать структуру поверхности с вертикальным разрешением до сотых долей нанометра, выявлять тонкие особенности деформации, дислокаций на поверхности и разрушения материала, не определяемые ни ОМ, ни СЭМ. АСМ является единственным прямым высокоразрешающим методом с пространственной трехмерной визуализацией, позволяющий расширить применение метода индентирования с малыми нагрузками (0,01–0,5 Н). Именно этот диапазон подходит для определения характеристик отдельных фаз в материале. Применение малых нагрузок при индентировании вызывает другой тип деформации со своей2 особенностью течения дислокаций и нуждается в подборе соответствующих моделей деформации. Диссертационная работа посвящена разработке методик определения вязкости разрушения методом индентирования с визуализацией области деформации и образуемых трещин при помощи атомно-силовой микроскопии для твердых хрупких материалов и покрытий с учетом факторов, позволяющих уменьшить погрешность определения вязкости разрушения.ru
dc.language.isoruru
dc.titleКонтроль трещиностойкости керамических материалов и покрытий с применением атомно-силовой микроскопии и наноиндентированияru
dc.title.alternativeАвтореферат диссертации ... канд. техн. наук : 05.11.01ru
dc.typeThesisru


Files in this item

Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record