Диагностика поверхности оптоэлектронных полупроводниковых структур в условиях фотомагнитного воздействия
| dc.contributor.author | Стельмахова, А. П. | ru |
| dc.contributor.author | Ломтев, А. А. | ru |
| dc.coverage.spatial | Минск | ru |
| dc.date.accessioned | 2022-08-24T10:23:51Z | |
| dc.date.available | 2022-08-24T10:23:51Z | |
| dc.date.issued | 2015 | |
| dc.identifier.citation | Стельмахова, А. П. Диагностика поверхности оптоэлектронных полупроводниковых структур в условиях фотомагнитного воздействия / А. П. Стельмахова, А. А. Ломтев // Новые направления развития приборостроения : материалы 8-й Международной научно-технической конференции молодых ученых и студентов / редкол.: О. К. Гусев [и др.]. – Минск : БНТУ, 2015. – С. 60. | ru |
| dc.identifier.uri | https://rep.bntu.by/handle/data/117980 | |
| dc.language.iso | ru | ru |
| dc.publisher | БНТУ | ru |
| dc.title | Диагностика поверхности оптоэлектронных полупроводниковых структур в условиях фотомагнитного воздействия | ru |
| dc.type | Working Paper | ru |
