Определение параметров тонких слоев с помощью интерференционной спектроскопии
| dc.contributor.author | Пузевич, Н. В. | ru |
| dc.contributor.author | Красовский, В. В. | ru |
| dc.coverage.spatial | Минск | ru |
| dc.date.accessioned | 2022-09-22T07:34:52Z | |
| dc.date.available | 2022-09-22T07:34:52Z | |
| dc.date.issued | 2012 | |
| dc.identifier.citation | Пузевич, Н. В. Определение параметров тонких слоев с помощью интерференционной спектроскопии / Н. В. Пузевич, В. В. Красовский // Новые направления развития приборостроения : материалы 5-й Международной студенческой научно-технической конференции, 18-20 апреля 2012 г. / редкол.: О. К. Гусев [и др.]. – Минск : БНТУ, 2012. – С. 252. | ru |
| dc.identifier.uri | https://rep.bntu.by/handle/data/119795 | |
| dc.language.iso | ru | ru |
| dc.publisher | БНТУ | ru |
| dc.title | Определение параметров тонких слоев с помощью интерференционной спектроскопии | ru |
| dc.type | Working Paper | ru |
