| dc.contributor.author | Ефименко, С. А. | ru |
| dc.contributor.author | Смолич, В. А. | ru |
| dc.coverage.spatial | Минск | ru |
| dc.date.accessioned | 2022-12-28T10:29:01Z | |
| dc.date.available | 2022-12-28T10:29:01Z | |
| dc.date.issued | 2022 | |
| dc.identifier.citation | Ефименко, С. А. Классификация устройств для организации тестирования ЭКБ в диапазоне температур = Classification of devices for the organization of ECB testing in the temperature range / С. А. Ефименко, В. А. Смолич // Приборостроение-2022 : материалы 15-й Международной научно-технической конференции, 16-18 ноября 2022 года, Минск, Республика Беларусь / редкол.: О. К. Гусев (председатель) [и др.]. – Минск : БНТУ, 2022. – С. 25-27. | ru |
| dc.identifier.uri | https://rep.bntu.by/handle/data/124392 | |
| dc.description.abstract | Работоспособность электронной аппаратуры в широком диапазоне температур окружающей среды определяется в первую очередь работоспособностью используемой элементной компонентной базы (ЭКБ). В работе приведены обзор и классификация оборудования для тестирования в серийном производстве микросхем и полупроводниковых приборов в диапазоне температур. Показаны основные характеристики автоматизированных и неавтоматизированных устройств, предназначенных для задания температур при тестировании. | ru |
| dc.language.iso | ru | ru |
| dc.publisher | БНТУ | ru |
| dc.title | Классификация устройств для организации тестирования ЭКБ в диапазоне температур | ru |
| dc.title.alternative | Classification of devices for the organization of ECB testing in the temperature range | ru |
| dc.type | Working Paper | ru |
| local.description.annotation | The operability of electronic equipment in a wide range of ambient temperatures is determined primarily by the operability of the element component base (ECB) used. The paper provides an overview and classification of equipment for testing in the mass production of microcircuits and semiconductor devices in the temperature range. The main characteristics of automated and non-automated devices designed to set temperatures during testing are shown. Keywords: measurement, testing, microchips, semiconductor devices, temperature range. | ru |
