| dc.contributor.author | Борисенок, С. В. | ru |
| dc.contributor.author | Тявловский, А. К. | ru |
| dc.coverage.spatial | Минск | ru |
| dc.date.accessioned | 2023-12-21T07:32:11Z | |
| dc.date.available | 2023-12-21T07:32:11Z | |
| dc.date.issued | 2023 | |
| dc.identifier.citation | Борисенок, С. В. Перспективы применения цифровых двойников в приборостроении = Prospective applications of digital twins in instrumentation engineering / С. В. Борисенок, А. К. Тявловский // Приборостроение-2023 : материалы 16-й Международной научно-технической конференции, 15-17 ноября 2023 года, Минск, Республика Беларусь / редкол.: О. К. Гусев (пред.) [и др.]. – Минск : БНТУ, 2023. – С. 23-24. | ru |
| dc.identifier.uri | https://rep.bntu.by/handle/data/138482 | |
| dc.description.abstract | Рассмотрена сущность цифровых двойников технических изделий и устройств, предъявляемые к ним требования и современное применение цифровых двойников в промышленности. К настоящему времени сформирована необходимая база для создания цифровых двойников средств измерений, однако дальнейшая цифровизация приборостроения сдерживается необходимостью решения многофакторной задачи моделирования взаимодействия электрических, механических и тепловых процессов в приборах, что является темой дальнейших исследований. | ru |
| dc.language.iso | ru | ru |
| dc.publisher | БНТУ | ru |
| dc.title | Перспективы применения цифровых двойников в приборостроении | ru |
| dc.title.alternative | Prospective applications of digital twins in instrumentation engineering | ru |
| dc.type | Working Paper | ru |
| local.description.annotation | The essence of digital twins of technical items and devices, the requirements for them and the modern use of digital twins in industry are considered. To date, the necessary basis for creating digital twins of measuring instruments has been formed. However, further digitalization of instrumentation engineering is hampered by the need to solve the multifactor problem of modeling the interaction of electrical, mechanical and thermal processes in measuring devices, which is a topic for further research. | ru |
