Show simple item record

dc.contributor.authorЛисенков, Б. Н.ru
dc.contributor.authorЧеховский, В. А.ru
dc.contributor.authorДятлов, В. Л.ru
dc.contributor.authorГрицев, Н. В.ru
dc.coverage.spatialМинскru
dc.date.accessioned2015-03-17T06:39:03Z
dc.date.available2015-03-17T06:39:03Z
dc.date.issued2014
dc.identifier.citationИзмерение динамических параметров микросхем, находящихся в удаленной испытательной камере / Б. Н. Лисенков [и др.] // Приборостроение-2014 : материалы 7-й Международной научно-технической конференции (19–21 ноября 2014 года, Минск, Республика Беларусь) / ред. колл.: О. К. Гусев [и др.]. – Минск : БНТУ, 2014. – С. 92-94.ru
dc.identifier.urihttps://rep.bntu.by/handle/data/14837
dc.language.isoruru
dc.publisherБНТУru
dc.titleИзмерение динамических параметров микросхем, находящихся в удаленной испытательной камереru
dc.typeWorking Paperru


Files in this item

Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record