Измерение динамических параметров микросхем, находящихся в удаленной испытательной камере
| dc.contributor.author | Лисенков, Б. Н. | ru |
| dc.contributor.author | Чеховский, В. А. | ru |
| dc.contributor.author | Дятлов, В. Л. | ru |
| dc.contributor.author | Грицев, Н. В. | ru |
| dc.coverage.spatial | Минск | ru |
| dc.date.accessioned | 2015-03-17T06:39:03Z | |
| dc.date.available | 2015-03-17T06:39:03Z | |
| dc.date.issued | 2014 | |
| dc.identifier.citation | Измерение динамических параметров микросхем, находящихся в удаленной испытательной камере / Б. Н. Лисенков [и др.] // Приборостроение-2014 : материалы 7-й Международной научно-технической конференции (19–21 ноября 2014 года, Минск, Республика Беларусь) / ред. колл.: О. К. Гусев [и др.]. – Минск : БНТУ, 2014. – С. 92-94. | ru |
| dc.identifier.uri | https://rep.bntu.by/handle/data/14837 | |
| dc.language.iso | ru | ru |
| dc.publisher | БНТУ | ru |
| dc.title | Измерение динамических параметров микросхем, находящихся в удаленной испытательной камере | ru |
| dc.type | Working Paper | ru |
