Browsing Международные конференции by Author "Тявловский, А. К."
Now showing items 41-60 of 125
-
Контроль параметров границы раздела кремний-двуокись кремния после быстрой термообработки методами исследования вольтфарадных характеристик и зондовой электрометрии
Жарин, А. Л.; Гусев, О. К.; Воробей, Р. И.; Пантелеев, К. В.; Тявловский, А. К.; Тявловский, К. Л.; Пилипенко, В. А.; Солодуха, В. А. (БНТУ, 2018)Контроль параметров границы раздела кремний-двуокись кремния после быстрой термообработки методами исследования вольтфарадных характеристик и зондовой электрометрии / А. Л. Жарин [и др.] // Приборостроение-2018 : материалы 11-й Международной научно-технической конференции, 14-16 ноября 2018 года, Минск, Республика Беларусь / редкол.: О. К. Гусев (председатель) [и др.]. – Минск : ...2019-04-17 -
Математическая модель измерений пространственного распределения потенциала поверхности диэлектрических материалов
Тявловский, А. К.; Жарин, А. Л.; Гусев, О. К.; Тявловский, К. Л.; Мухуров, Н. И.; Опеляк, М. (БНТУ, 2018)Математическая модель измерений пространственного распределения потенциала поверхности диэлектрических материалов / А. К. Тявловский [и др.] // Приборостроение-2018 : материалы 11-й Международной научно-технической конференции, 14-16 ноября 2018 года, Минск, Республика Беларусь / редкол.: О. К. Гусев (председатель) [и др.]. – Минск : БНТУ, 2018. – С. 86-87.2019-04-17 -
Математическое моделирование взаимодействия средств контроля электрофизических параметров с наноразмерными дефектами поверхности
Тявловский, А. К.; Жарин, А. Л. (БНТУ, 2017)Тявловский, А. К. Математическое моделирование взаимодействия средств контроля электрофизических параметров с наноразмерными дефектами поверхности / А. К. Тявловский, А. Л. Жарин // Наука – образованию, производству, экономике : материалы 15-й Международной научно-технической конференции. - Минск : БНТУ, 2017. - Т. 2. - С. 225.2018-04-03 -
Математическое моделирование взаимодействия электрометрического зонда с неоднородно заряженной поверхностью диэлектрика
Тявловский, А. К.; Жарин, А. Л.; Гусев, О. К.; Тявловский, К. Л.; Воробей, Р. И.; Дубаневич, А. В.; Жуковский, П. (БНТУ, 2016)Математическое моделирование взаимодействия электрометрического зонда с неоднородно заряженной поверхностью диэлектрика / А. К. Тявловский [и др.] // Приборостроение-2016 : материалы 9-й международной научно-технической конференции, Минск, 23-25 ноября 2016 г. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. – Минск, 2016. – С. 393-395.2017-04-04 -
Математическое моделирование характеристик разрешающей способности сканирующего зонда Кельвина
Тявловский, А. К. (БНТУ, 2012)Тявловский, А. К. Математическое моделирование характеристик разрешающей способности сканирующего зонда Кельвина / А. К. Тявловский // Наука - образованию, производству, экономике : материалы Десятой международной научно-технической конференции : в 4 т. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: Б. М. Хрусталев, Ф. А. Романюк, А. С. Калиниченко. – Минск : БНТУ, ...2021-05-20 -
Методика исследования метрологических характеристик измерительных преобразователей электрического потенциала
Тявловский, К. Л.; Тявловский, А. К.; Мухуров, Н. И. (БНТУ, 2013)Тявловский, К. Л. Методика исследования метрологических характеристик измерительных преобразователей электрического потенциала / К. Л. Тявловский, А. К. Тявловский, Н. И. Мухуров // Наука – образованию, производству, экономике : материалы 11-й Международной научно-технической конференции. Т. 2. - Минск : БНТУ, 2013. - С. 186.2015-08-20 -
Методика межлабораторных сличений средств измерений концентрации технологических растворов
Гусев, О. К.; Марцынкевич, Ю. С.; Тявловский, А. К. (БНТУ, 2004)Гусев, О. К. Методика межлабораторных сличений средств измерений концентрации технологических растворов / О. К. Гусев, Ю. С. Марцынкевич, А. К. Тявловский // Наука - образованию, производству, экономике : материалы Второй международной научно-технической конференции : в 2 т. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: Б. М. Хрусталев, Ф. А. Романюк, А. С. ...2021-10-15 -
Методика неразрушающего контроля качества наноструктурированных покрытий на основе анализа распределения РВЭ
Воробей, Р. И.; Гусев, О. К.; Жарин, А. Л.; Мухуров, Н. И.; Тявловский, А. К.; Тявловский, К. Л.; Свистун, А. И.; Дубаневич, А. В. (БНТУ, 2014)В результате проведенных исследований разработаны технические требования к методике сплошного неразрушающего контроля электро-физических свойств чувствительных элементов из наноструктурированных материалов для нового поколения датчиков потока космической плазмы.2015-03-16 -
Методические основы неразрушающего контроля дефектов композитных структур элементов микросенсорных устройств
Пантелеев, К. В.; Тявловский, А. К. (БНТУ, 2016)Пантелеев, К. В. Методические основы неразрушающего контроля дефектов композитных структур элементов микросенсорных устройств / К. В. Пантелеев, А. К. Тявловский // Наука – образованию, производству, экономике : материалы 14-й Международной научно-технической конференции. - Минск : БНТУ, 2016. - Т. 2. - С. 208.2017-04-03 -
Методические основы определения энергетического спектра заряда на ловушках в структуре кремний-диэлектрик средствами зондовой электрометрии
Воробей, Р. И.; Гусев, О. К.; Жарин, А. Л.; Петлицкий, А. Н.; Пилипенко, В. А.; Тявловский, А. К.; Тявловский, К. Л.; Свистун, А. И. (БНТУ, 2014)Методические основы определения энергетического спектра заряда на ловушках в структуре кремний-диэлектрик средствами зондовой электрометрии / Р. И. Воробей [и др.] // Приборостроение-2014 : материалы 7-й Международной научно-технической конференции (19–21 ноября 2014 года, Минск, Республика Беларусь) / ред. колл.: О. К. Гусев [и др.]. – Минск : БНТУ, 2014. – С. 56-58.2015-03-16 -
Методы и средства фотостимулированной зондовой электрометрии для контроля параметров полупроводниковых пластин
Жарин, А. Л.; Петлицкий, А. Н.; Воробей, Р. И.; Гусев, О. К.; Пилипенко, В. А.; Солодуха, В. А.; Тявловский, А. К. (БНТУ, 2016)Методы и средства фотостимулированной зондовой электрометрии для контроля параметров полупроводниковых пластин / А. Л. Жарин [и др.] // Приборостроение-2016 : материалы 9-й международной научно-технической конференции, Минск, 23-25 ноября 2016 г. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. – Минск, 2016. – С. 12-14.2017-02-28 -
Методы цифровой фильтрации в обработке сигналов зондовой электрометрии
Тявловский, А. К.; Поведайко, А. Д.; Жарин, А. Л.; Воробей, Р. И.; Гусев, О. К.; Колтунович, Т.; Пантелеев, К. В. (БНТУ, 2020)Методы цифровой фильтрации в обработке сигналов зондовой электрометрии / А. К. Тявловский [и др.] // Приборостроение-2020 : материалы 13-й Международной научно-технической конференции, 18–20 ноября 2020 года, Минск, Республика Беларусь / редкол.: О. К. Гусев (председатель) [и др.]. – Минск : БНТУ, 2020. – С. 92-94.2021-02-09 -
Метрологическая модель системы измерения работы выхода электрона поверхности методом невибрирующего зонда Кельвина
Жарин, А. Л.; Тявловский, А. К. (БНТУ, 2011)Жарин, А. Л. Метрологическая модель системы измерения работы выхода электрона поверхности методом невибрирующего зонда Кельвина / А. Л. Жарин, А. К. Тявловский // Наука - образованию, производству, экономике : материалы Девятой международной научно-технической конференции : в 4 т. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: Б. М. Хрусталев, Ф. А. Романюк, А. С. ...2021-06-04 -
Миграция поверхностного электростатического заряда полиэтилена после деформирования
Борбат, М. С.; Самарина, А. В.; Пантелеев, К. В.; Тявловский, А. К.; Гусев, О.; Жарин, А. Л. (БНТУ, 2023)В работе на примере полиэтилена высокого давления рассмотрены некоторые эффекты миграции (перераспределения) поверхностного электростатического потенциала в диэлектрическом материале под действием механических напряжений и при релаксации. В качестве метода и средств исследования изменения распределения поверхностного электростатического потенциала под действием механических ...2023-12-21 -
Микропроцессорный блок управления биологической водной системой
Шумский, А. Э.; Тявловский, А. К. (БНТУ, 2013)Шумский, А. Э. Микропроцессорный блок управления биологической водной системой / А. Э. Шумский, А. К. Тявловский // Новые направления развития приборостроения : материалы 6-й Международной студенческой научно-технической конференции, 24-26 апреля 2013 г. / редкол.: О. К. Гусев [и др.]. – Минск : БНТУ, 2013. – С. 67.2022-10-24 -
Микропроцессорный измерительный преобразователь электростатических потенциалов для контроля микроструктуры сеточного полотна
Тявловский, А. К.; Жарин, А. Л.; Гусев, О. К.; Тявловский, К. Л.; Мухуров, Н. И.; Дубаневич, А. В. (БНТУ, 2015)Микропроцессорный измерительный преобразователь электростатических потенциалов для контроля микроструктуры сеточного полотна / А. К. Тявловский [и др.] // Приборостроение-2015 : материалы 8-й международной научно-технической конференции, Минск, 25-27 ноября 2015 г. : в 2 т. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. – Минск, 2015. – Т. 1. ...2016-10-04 -
Неразрушающий контроль дефектов пористого анодного оксида алюминия методами зондовой электрометрии
Тявловский, А. К.; Жарин, А. Л.; Воробей, Р. И.; Гусев, О. К.; Свистун, А. И.; Мухуров, Н. И.; Микитевич, В. А. (БНТУ, 2019)Неразрушающий контроль дефектов пористого анодного оксида алюминия методами зондовой электрометрии / А. К. Тявловский [и др.] // Приборостроение-2019 : материалы 12-й Международной научно-технической конференции, 13–15 ноября 2019 года, Минск, Республика Беларусь / редкол.: О. К. Гусев (председатель) [и др.]. – Минск : БНТУ, 2019. – С. 71-73.2020-01-03 -
Неразрушающий контроль механических напряжений на поверхности проводящих объектов
Гусев, О. К.; Киреенко, В. П.; Русакевич, Д. А.; Тявловский, К. Л.; Тявловский, А. К. (БНТУ, 2006)Неразрушающий контроль механических напряжений на поверхности проводящих объектов / О. К. Гусев [и др.] // Наука - образованию, производству, экономике : материалы Четвертой международной научно-технической конференции : в 2 т. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: Б. М. Хрусталев, Ф. А. Романюк, А. С. Калиниченко. – Минск : БНТУ, 2006. – Т. 1. – С. 236-238.2021-11-11 -
Неразрушающий контроль параметров пространственного распределения дефектов с характерными размерами более 50 нм в полупроводниковых пластинах
Гусев, О. К.; Воробей, Р. И.; Тявловский, К. Л.; Тявловский, А. К. (БНТУ, 2007)Неразрушающий контроль параметров пространственного распределения дефектов с характерными размерами более 50 нм в полупроводниковых пластинах / О. К. Гусев [и др.] // Наука - образованию, производству, экономике : материалы Пятой международной научно-технической конференции : в 2 т. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: Б. М. Хрусталев, Ф. А. Романюк, А. ...2021-11-08 -
Новые направления развития приборостроения
Гусев, О. К.; Маляревич, А. М.; Свистун, А. И.; Кулешов, Н. В.; Воробей, Р. И.; Плескачевский, Ю. М.; Киселев, М. Г.; Князев, М. А.; Серенков, П. С.; Юмашев, К. В.; Ризноокая, Н. Н.; Васюк, В. Е.; Тявловский, А. К. (БНТУ, 2020)Издание включает материалы 13-й Международной научно-технической конференции молодых ученых и студентов «Новые направления развития приборостроения» по направлениям: информационно-измерительная техника и технологии; конструирование и производство приборов; микро- и нанотехника; оптоэлектроника, лазерная техника и технология; стандартизация, метрология и информационные системы; ...2020-06-04