Применение форсированных режимов для ускоренной оценки надежности светоизлучающих диодов
| dc.contributor.author | Манего, С. А. | ru |
| dc.coverage.spatial | Минск | ru |
| dc.date.accessioned | 2016-05-04T12:34:55Z | |
| dc.date.available | 2016-05-04T12:34:55Z | |
| dc.date.issued | 2015 | |
| dc.identifier.citation | Манего, С. А. Применение форсированных режимов для ускоренной оценки надежности светоизлучающих диодов / С. А. Манего // Наука – образованию, производству, экономике : материалы 13-й Международной научно-технической конференции. - Минск : БНТУ, 2015. - Т. 3. - С. 477. | ru |
| dc.identifier.uri | https://rep.bntu.by/handle/data/23597 | |
| dc.language.iso | ru | ru |
| dc.publisher | БНТУ | ru |
| dc.title | Применение форсированных режимов для ускоренной оценки надежности светоизлучающих диодов | ru |
| dc.type | Working Paper | ru |
