Стенд для контроля и юстировки микроскопа ZEISS Stemi 508
Bibliographic entry
Дарган, Г. А. Стенд для контроля и юстировки микроскопа ZEISS Stemi 508 / Г. А. Дарган, Н. К. Артюхина, М. С. Антонович // Новые направления развития приборостроения : материалы 9-й международной научно-технической конференции молодых ученых и студентов, Минск, 20–22 апреля 2016 г. : в 2 т. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. – Минск, 2016. – Т. 2. - С. 27.