Show simple item record

dc.contributor.authorБумай, Ю. А.ru
dc.contributor.authorВаськов, О. С.ru
dc.contributor.authorКононенко, В. К.ru
dc.contributor.authorНисс, В. С.ru
dc.contributor.authorКеренцев, А. Ф.ru
dc.contributor.authorПетлицкий, А. Н.ru
dc.contributor.authorСоловьев, Я. А.ru
dc.coverage.spatialМинскru
dc.date.accessioned2017-03-27T12:27:29Z
dc.date.available2017-03-27T12:27:29Z
dc.date.issued2016
dc.identifier.citationСравнительная оценка качества посадки кристаллов на припой и эвтектику в мощных МОП-транзисторах КП7209 в корпусе ТО-254 методом тепловой релаксационной дифференциальной спектрометрии / Ю. А. Бумай [и др.] // Приборостроение-2016 : материалы 9-й международной научно-технической конференции, Минск, 23-25 ноября 2016 г. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. – Минск, 2016. – С. 278-279.ru
dc.identifier.urihttps://rep.bntu.by/handle/data/28920
dc.language.isoruru
dc.publisherБНТУru
dc.titleСравнительная оценка качества посадки кристаллов на припой и эвтектику в мощных МОП-транзисторах КП7209 в корпусе ТО-254 методом тепловой релаксационной дифференциальной спектрометрииru
dc.typeWorking Paperru


Files in this item

Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record