Сравнительная оценка качества посадки кристаллов на припой и эвтектику в мощных МОП-транзисторах КП7209 в корпусе ТО-254 методом тепловой релаксационной дифференциальной спектрометрии
dc.contributor.author | Бумай, Ю. А. | ru |
dc.contributor.author | Васьков, О. С. | ru |
dc.contributor.author | Кононенко, В. К. | ru |
dc.contributor.author | Нисс, В. С. | ru |
dc.contributor.author | Керенцев, А. Ф. | ru |
dc.contributor.author | Петлицкий, А. Н. | ru |
dc.contributor.author | Соловьев, Я. А. | ru |
dc.coverage.spatial | Минск | ru |
dc.date.accessioned | 2017-03-27T12:27:29Z | |
dc.date.available | 2017-03-27T12:27:29Z | |
dc.date.issued | 2016 | |
dc.identifier.citation | Сравнительная оценка качества посадки кристаллов на припой и эвтектику в мощных МОП-транзисторах КП7209 в корпусе ТО-254 методом тепловой релаксационной дифференциальной спектрометрии / Ю. А. Бумай [и др.] // Приборостроение-2016 : материалы 9-й международной научно-технической конференции, Минск, 23-25 ноября 2016 г. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. – Минск, 2016. – С. 278-279. | ru |
dc.identifier.uri | https://rep.bntu.by/handle/data/28920 | |
dc.language.iso | ru | ru |
dc.publisher | БНТУ | ru |
dc.title | Сравнительная оценка качества посадки кристаллов на припой и эвтектику в мощных МОП-транзисторах КП7209 в корпусе ТО-254 методом тепловой релаксационной дифференциальной спектрометрии | ru |
dc.type | Working Paper | ru |