Принципы экспрессного контроля наноразмерных дефектов макроскопических поверхностей методами зондовой электрометрии
| dc.contributor.author | Жарин, А. Л. | ru |
| dc.contributor.author | Тявловский, А. К. | ru |
| dc.coverage.spatial | Минск | ru |
| dc.date.accessioned | 2017-04-03T09:05:52Z | |
| dc.date.available | 2017-04-03T09:05:52Z | |
| dc.date.issued | 2016 | |
| dc.identifier.citation | Жарин, А. Л. Принципы экспрессного контроля наноразмерных дефектов макроскопических поверхностей методами зондовой электрометрии / А. Л. Жарин, А. К. Тявловский // Наука – образованию, производству, экономике : материалы 14-й Международной научно-технической конференции. - Минск : БНТУ, 2016. - Т. 2. - С. 209. | ru |
| dc.identifier.uri | https://rep.bntu.by/handle/data/29250 | |
| dc.language.iso | ru | ru |
| dc.publisher | БНТУ | ru |
| dc.title | Принципы экспрессного контроля наноразмерных дефектов макроскопических поверхностей методами зондовой электрометрии | ru |
| dc.type | Working Paper | ru |
