Повышение надежности опто- и микроэлектронных устройств путем анализа их параметров, оптимизации конструкции и разработки высокоэффективных систем охлаждения
xmlui.dri2xhtml.METS-1.0.item-supervisor
Date
2010Publisher
xmlui.dri2xhtml.METS-1.0.item-identifier-udc
621.315Another Title
Отчет о НИР (заключительный) :06-127
Bibliographic entry
Повышение надежности опто- и микроэлектронных устройств путем анализа их параметров, оптимизации конструкции и разработки высокоэффективных систем охлаждения : отчет о НИР (заключительный) : 06-127 / Белорусский национальный технический университет; рук. Доманевский Д. С., исполн. Хорунжей И. А. [и др.]. – Минск, 2010. – 156 с. – Библиогр.: С. 140-148. - № ГР 20061051
Abstract
Цель работы - исследование влияние технологий получения и условий эксплуатации на электрические, оптические и тепловые характеристики СИД. В работе использовался метод компьютерного моделирования формы спектров. Основные результаты и их новизна: разработана физическая модель, учитывающая влияние примесных ионов на форму спектров. Основные конструктивные, технологические и технико-эксплуатационные характеристики: неразрушающий люминесцентный контроль технологического влияния и поведения примесей.
View/ Open
Collections
- Отчеты о НИОКТР[949]