Применение электронографии для исследования структуры и фазового состава тонких пленок
| dc.contributor.author | Навицкий, А. Н. | ru |
| dc.contributor.author | Щербакова, Е. Н. | ru |
| dc.coverage.spatial | Минск | ru |
| dc.date.accessioned | 2017-06-26T12:54:49Z | |
| dc.date.available | 2017-06-26T12:54:49Z | |
| dc.date.issued | 2017 | |
| dc.identifier.citation | Навицкий, А. Н. Применение электронографии для исследования структуры и фазового состава тонких пленок / А. Н. Навицкий, Е. Н. Щербакова // Новые направления развития приборостроения : материалы 10-й международной научно-технической конференции молодых ученых и студентов, Минск, 26−28 апреля 2017 г. : в 2 т. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. – Минск, 2017. – Т. 1. - С. 255-256. | ru |
| dc.identifier.uri | https://rep.bntu.by/handle/data/31168 | |
| dc.language.iso | ru | ru |
| dc.publisher | БНТУ | ru |
| dc.title | Применение электронографии для исследования структуры и фазового состава тонких пленок | ru |
| dc.type | Working Paper | ru |
