Повышение надежности мощных транзисторов при циклическом воздействии температуры
| dc.contributor.author | Волкенштейн, С. С. | ru |
| dc.contributor.author | Солодуха, В. А. | ru |
| dc.contributor.author | Соловьев, Я. А. | ru |
| dc.contributor.author | Керенцев, А. Ф. | ru |
| dc.contributor.author | Хмыль, А. А. | ru |
| dc.coverage.spatial | Минск | ru |
| dc.date.accessioned | 2018-02-07T12:46:03Z | |
| dc.date.available | 2018-02-07T12:46:03Z | |
| dc.date.issued | 2017 | |
| dc.identifier.citation | Повышение надежности мощных транзисторов при циклическом воздействии температуры / С. С. Волкенштейн [и др.] // Приборостроение - 2017 : материалы 10-й Международной научно-технической конференции, 1-3 ноября 2017 года, Минск, Республика Беларусь / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. - Минск : БНТУ, 2017. - С. 284-285. | ru |
| dc.identifier.uri | https://rep.bntu.by/handle/data/37402 | |
| dc.language.iso | ru | ru |
| dc.publisher | БНТУ | ru |
| dc.title | Повышение надежности мощных транзисторов при циклическом воздействии температуры | ru |
| dc.type | Working Paper | ru |
