Анализ дефектов слоя посадки кристаллов в мощных МОП транзисторах из разностных тепловых спектров при термошоковом воздействии
![Thumbnail](/bitstream/handle/data/37423/Analiz_defektov_sloya_posadki_kristallov_v_moshchnyh_mop_tranzistorah_iz_raznostnyh_teplovyh_spektrov_pri_termoshokovom_vozdejstvii.pdf.jpg?sequence=2&isAllowed=y)
Authors
Date
2017Publisher
Bibliographic entry
Анализ дефектов слоя посадки кристаллов в мощных МОП транзисторах из разностных тепловых спектров при термошоковом воздействии / Ю. А. Бумай [и др.] // Приборостроение - 2017 : материалы 10-й Международной научно-технической конференции, 1-3 ноября 2017 года, Минск, Республика Беларусь / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. - Минск : БНТУ, 2017. - С. 305-307.