Now showing items 1-2 of 2

    • Алгоритмы обработки визуализированных изображений при картировании дефектов полупроводниковых пластин 

      Тявловский, А. К.; Жарин, А. Л.; Гусев, О. К.; Воробей, Р. И.; Тявловский, К. Л.; Пантелеев, К. В.; Микитевич, В. А.; Пилипенко, В. А.; Петлицкий, А. Н. (БНТУ, 2016)
      Алгоритмы обработки визуализированных изображений при картировании дефектов полупроводниковых пластин / А. К. Тявловский [и др.] // Приборостроение-2016 : материалы 9-й международной научно-технической конференции, Минск, 23-25 ноября 2016 г. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. – Минск, 2016. – С. 391-393.
      2017-04-04
    • Малогабаритный аналоговый измеритель контактной разности потенциалов 

      Микитевич, В. А.; Пантелеев, К. В.; Жарин, А. Л. (БНТУ, 2016)
      Микитевич, В. А. Малогабаритный аналоговый измеритель контактной разности потенциалов / В. А. Микитевич, К. В. Пантелеев, А. Л. Жарин // Приборостроение-2016 : материалы 9-й международной научно-технической конференции, Минск, 23-25 ноября 2016 г. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. – Минск, 2016. – С. 97-99.
      2017-03-10