Browsing Приборостроение-2016 by Author "Петлицкий, А. Н."
Now showing items 1-6 of 6
-
Алгоритмы обработки визуализированных изображений при картировании дефектов полупроводниковых пластин
Тявловский, А. К.; Жарин, А. Л.; Гусев, О. К.; Воробей, Р. И.; Тявловский, К. Л.; Пантелеев, К. В.; Микитевич, В. А.; Пилипенко, В. А.; Петлицкий, А. Н. (БНТУ, 2016)Алгоритмы обработки визуализированных изображений при картировании дефектов полупроводниковых пластин / А. К. Тявловский [и др.] // Приборостроение-2016 : материалы 9-й международной научно-технической конференции, Минск, 23-25 ноября 2016 г. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. – Минск, 2016. – С. 391-393.2017-04-04 -
Анализ вольтамперных характеристик диодов-генераторов широкополосного шума
Буслюк, В. В.; Оджаев, В. Б.; Панфиленко, А. К.; Петлицкий, А. Н.; Просолович, В. С.; Шведов, С. В.; Филипеня, В. А.; Черный, В. В.; Явид, В. Ю.; Янковский, Ю. Н.; Лановский, Р. А. (БНТУ, 2016)Анализ вольтамперных характеристик диодов-генераторов широкополосного шума / В. В. Буслюк [и др.] // Приборостроение-2016 : материалы 9-й международной научно-технической конференции, Минск, 23-25 ноября 2016 г. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. – Минск, 2016. – С. 280-281.2017-03-27 -
Методика на основе метода электротепловой спектрометрии для исследования профилей растекания теплового потока в оптоэлектронных и силовых полупроводниковых приборах
Бумай, Ю. А.; Васьков, О. С.; Кононенко, В. К.; Нисс, В. С.; Керенцев, А. Ф.; Петлицкий, А. Н.; Рубцевич, И. И. (БНТУ, 2016)Методика на основе метода электротепловой спектрометрии для исследования профилей растекания теплового потока в оптоэлектронных и силовых полупроводниковых приборах / Ю. А. Бумай [и др.] // Приборостроение-2016 : материалы 9-й международной научно-технической конференции, Минск, 23-25 ноября 2016 г. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. ...2017-03-15 -
Методы и средства фотостимулированной зондовой электрометрии для контроля параметров полупроводниковых пластин
Жарин, А. Л.; Петлицкий, А. Н.; Воробей, Р. И.; Гусев, О. К.; Пилипенко, В. А.; Солодуха, В. А.; Тявловский, А. К. (БНТУ, 2016)Методы и средства фотостимулированной зондовой электрометрии для контроля параметров полупроводниковых пластин / А. Л. Жарин [и др.] // Приборостроение-2016 : материалы 9-й международной научно-технической конференции, Минск, 23-25 ноября 2016 г. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. – Минск, 2016. – С. 12-14.2017-02-28 -
Принципы построения электрометрического зонда для контроля пространственного распределения поверхностной фотоЭДС
Жарин, А. Л.; Тявловский, А. К.; Тявловский, К. Л.; Воробей, Р. И.; Гусев, О. К.; Пилипенко, В. А.; Петлицкий, А. Н. (БНТУ, 2016)Принципы построения электрометрического зонда для контроля пространственного распределения поверхностной фотоЭДС / А. Л. Жарин [и др.] // Приборостроение-2016 : материалы 9-й международной научно-технической конференции, Минск, 23-25 ноября 2016 г. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. – Минск, 2016. – С. 52-53.2017-03-06 -
Сравнительная оценка качества посадки кристаллов на припой и эвтектику в мощных МОП-транзисторах КП7209 в корпусе ТО-254 методом тепловой релаксационной дифференциальной спектрометрии
Бумай, Ю. А.; Васьков, О. С.; Кононенко, В. К.; Нисс, В. С.; Керенцев, А. Ф.; Петлицкий, А. Н.; Соловьев, Я. А. (БНТУ, 2016)Сравнительная оценка качества посадки кристаллов на припой и эвтектику в мощных МОП-транзисторах КП7209 в корпусе ТО-254 методом тепловой релаксационной дифференциальной спектрометрии / Ю. А. Бумай [и др.] // Приборостроение-2016 : материалы 9-й международной научно-технической конференции, Минск, 23-25 ноября 2016 г. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: ...2017-03-27