Сравнительный анализ различных методов искусственной деградации светоизлучающих диодов, применяемых для прогнозирования их срока службы
| dc.contributor.author | Бобученко, Д. С. | ru |
| dc.contributor.author | Трофимов, Ю. В. | ru |
| dc.coverage.spatial | Минск | ru |
| dc.date.accessioned | 2018-06-27T12:21:00Z | |
| dc.date.available | 2018-06-27T12:21:00Z | |
| dc.date.issued | 2017 | |
| dc.identifier.citation | Бобученко, Д. С. Сравнительный анализ различных методов искусственной деградации светоизлучающих диодов, применяемых для прогнозирования их срока службы / Д. С. Бобученко, Ю. В. Трофимов // Наука – образованию, производству, экономике : материалы 15-й Международной научно-технической конференции. - Минск : БНТУ, 2017. - Т. 3. - С. 464. | ru |
| dc.identifier.uri | https://rep.bntu.by/handle/data/42895 | |
| dc.language.iso | ru | ru |
| dc.publisher | БНТУ | ru |
| dc.title | Сравнительный анализ различных методов искусственной деградации светоизлучающих диодов, применяемых для прогнозирования их срока службы | ru |
| dc.type | Working Paper | ru |
