Browsing Материалы 14-й конференции. Том 2 by Author "Тявловский, А. К."
Now showing items 1-2 of 2
-
Методические основы неразрушающего контроля дефектов композитных структур элементов микросенсорных устройств
Пантелеев, К. В.; Тявловский, А. К. (БНТУ, 2016)Пантелеев, К. В. Методические основы неразрушающего контроля дефектов композитных структур элементов микросенсорных устройств / К. В. Пантелеев, А. К. Тявловский // Наука – образованию, производству, экономике : материалы 14-й Международной научно-технической конференции. - Минск : БНТУ, 2016. - Т. 2. - С. 208.2017-04-03 -
Принципы экспрессного контроля наноразмерных дефектов макроскопических поверхностей методами зондовой электрометрии
Жарин, А. Л.; Тявловский, А. К. (БНТУ, 2016)Жарин, А. Л. Принципы экспрессного контроля наноразмерных дефектов макроскопических поверхностей методами зондовой электрометрии / А. Л. Жарин, А. К. Тявловский // Наука – образованию, производству, экономике : материалы 14-й Международной научно-технической конференции. - Минск : БНТУ, 2016. - Т. 2. - С. 209.2017-04-03