Тявловский, А. К. Средства регистрации электрофизических параметров макроскопических поверхностей с наноразмерными дефектами / А. К. Тявловский, А. Л. Жарин // Наука – образованию, производству, экономике : материалы 16-й Международной научно-технической конференции. - Минск : БНТУ, 2018. - Т. 2. - С. 176.