Способ магнитного контроля распределения величины удельной электропроводности и/или магнитной проницаемости и/или дефектов по объему изделия из электропроводящего материала
dc.contributor.author | Павлюченко, В. В. | |
dc.contributor.author | Дорошевич, Е. С. | |
dc.date.accessioned | 2019-10-08T13:26:36Z | |
dc.date.available | 2019-10-08T13:26:36Z | |
dc.date.issued | 2011 | |
dc.identifier.citation | Способ магнитного контроля распределения величины удельной электропроводности и/или магнитной проницаемости и/или дефектов по объему изделия из электропроводящего материала : пат. 14960 Респ. Беларусь : МПК(2006.01) G01N27/72 / В. В. Павлюченко, Е. С. Дорошевич ; заявитель Белорусский национальный технический университет ; дата публ.: 2011.10.30. | ru |
dc.identifier.other | 14960 | |
dc.identifier.uri | https://rep.bntu.by/handle/data/57740 | |
dc.language.iso | ru | ru |
dc.title | Способ магнитного контроля распределения величины удельной электропроводности и/или магнитной проницаемости и/или дефектов по объему изделия из электропроводящего материала | ru |
dc.title.alternative | Пат. 14960 Респ. Беларусь | ru |
dc.type | Patent | ru |
Files in this item
This item appears in the following Collection(s)
-
Изобретения[4965]