Show simple item record

Способ контроля дефектности, толщины, электрических и магнитных свойств объекта из электропроводящего материала

dc.contributor.authorПавлюченко, В. В.
dc.contributor.authorДорошевич, Е. С.
dc.date.accessioned2019-11-15T07:09:05Z
dc.date.available2019-11-15T07:09:05Z
dc.date.issued2017
dc.identifier.citationСпособ контроля дефектности, толщины, электрических и магнитных свойств объекта из электропроводящего материала : пат. 21370 Респ. Беларусь : МПК(2006.01) G01N27/72 / В. В. Павлюченко, Е. С. Дорошевич ; заявитель Белорусский национальный технический университет ; дата публ.: 2017.10.30.ru
dc.identifier.other21370
dc.identifier.urihttps://rep.bntu.by/handle/data/59305
dc.language.isoruru
dc.titleСпособ контроля дефектности, толщины, электрических и магнитных свойств объекта из электропроводящего материалаru
dc.title.alternativeПат. 21370 Респ. Беларусьru
dc.typePatentru


Files in this item

Thumbnail
Name:
21370.pdf
Size:
219.1Kb
Format:
PDF
Description:
Патент
View/Open

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record