Browsing Приборостроение-2019 by Author "Пантелеев, К. В."
Now showing items 1-4 of 4
-
Зондовые электрометрические методы для измерения удельного электрического сопротивления ионно-легированных и диффузионных слоев
Тявловский, А. К.; Воробей, Р. И.; Гусев, О. К.; Жарин, А. Л.; Пантелеев, К. В.; Петлицкий, А. Н.; Пилипенко, В. А.; Свистун, А. И.; Тявловский, К. Л. (БНТУ, 2019)Зондовые электрометрические методы для измерения удельного электрического сопротивления ионно-легированных и диффузионных слоев / А. К. Тявловский [и др.] // Приборостроение-2019 : материалы 12-й Международной научно-технической конференции, 13–15 ноября 2019 года, Минск, Республика Беларусь / редкол.: О. К. Гусев (председатель) [и др.]. – Минск : БНТУ, 2019. – С. 36-38.2020-01-03 -
Метод исследования скорости стекания заряда наэлектризованных материалов
Пантелеев, К. В.; Жарин, А. Л.; Свистун, А. И.; Тявловский, К. Л.; Самарина, А. В.; Опеляк, М.; Ардашев, Д. (БНТУ, 2019)Метод исследования скорости стекания заряда наэлектризованных материалов / К. В. Пантелеев [и др.] // Приборостроение-2019 : материалы 12-й Международной научно-технической конференции, 13–15 ноября 2019 года, Минск, Республика Беларусь / редкол.: О. К. Гусев (председатель) [и др.]. – Минск : БНТУ, 2019. – С. 127-129.2020-01-03 -
Особенности распределения пространственного заряда композитных полимеров под действием внутренних механических напряжений
Пантелеев, К. В.; Гусев, О. К.; Свистун, А. И.; Воробей, Р. И.; Тявловский, К. Л.; Жарин, И. А.; Самарина, А. В. (БНТУ, 2019)Особенности распределения пространственного заряда композитных полимеров под действием внутренних механических напряжений / К. В. Пантелеев [и др.] // Приборостроение-2019 : материалы 12-й Международной научно-технической конференции, 13–15 ноября 2019 года, Минск, Республика Беларусь / редкол.: О. К. Гусев (председатель) [и др.]. – Минск : БНТУ, 2019. – С. 17-19.2020-01-03 -
Установка для бесконтактного контроля однородности распределения параметров ионно-легированных и диффузионных слоев на полупроводниковых пластинах диаметром до 200 мм
Свистун, А. И.; Воробей, Р. И.; Гусев, О. К.; Жарин, А. Л.; Пантелеев, К. В.; Петлицкий, А. Н.; Пилипенко, В. А.; Тявловский, А. К.; Тявловский, К. Л. (БНТУ, 2019)Установка для бесконтактного контроля однородности распределения параметров ионно-легированных и диффузионных слоев на полупроводниковых пластинах диаметром до 200 мм / А. И. Свистун [и др.] // Приборостроение-2019 : материалы 12-й Международной научно-технической конференции, 13–15 ноября 2019 года, Минск, Республика Беларусь / редкол.: О. К. Гусев (председатель) [и др.]. – Минск ...2020-01-03