| dc.contributor.other | Сернов, С. П. | ru |
| dc.contributor.other | Балохонов, Д. В. | ru |
| dc.contributor.other | Имбро, Г. В. | ru |
| dc.coverage.spatial | Минск | ru |
| dc.date.accessioned | 2014-02-28T05:47:54Z | |
| dc.date.available | 2014-02-28T05:47:54Z | |
| dc.date.issued | 2013 | |
| dc.identifier.citation | Контроль параметров полупроводников : лабораторный практикум для студентов специальности 1-41 01 01 «Технология материалов и компонентов электронной техники» / сост.: С. П. Сернов, Д. В. Балохонов, Г. В. Имбро. – Минск : БНТУ, 2013. – 84 с. | ru |
| dc.identifier.isbn | 978-985-550-075-0 | |
| dc.identifier.uri | https://rep.bntu.by/handle/data/6381 | |
| dc.description.abstract | Данный лабораторный практикум содержит теоретические сведения и инструкции, необходимые для выполнения лабораторных работ по дисциплине «Контроль параметров полупроводников». В практикум включены лабораторные работы, посвященные эффекту Холла, явлениям фотоЭДС на границе раздела «полупроводник-электролит», фотоэлектромагнитному эффекту, емкостным и зондовым методам контроля полупроводников. | ru |
| dc.language.iso | ru | ru |
| dc.publisher | БНТУ | ru |
| dc.title | Контроль параметров полупроводников | ru |
| dc.title.alternative | Лабораторный практикум для студентов специальности 1-41 01 01 «Технология материалов и компонентов электронной техники» | ru |
| dc.type | Learning Object | ru |
| dc.type | Book | ru |
