| dc.contributor.author | Анисович, А. Г. | |
| dc.coverage.spatial | Минск | ru |
| dc.date.accessioned | 2020-06-12T12:16:29Z | |
| dc.date.available | 2020-06-12T12:16:29Z | |
| dc.date.issued | 2020 | |
| dc.identifier.citation | Анисович, А. Г. Особенности металлографического препарирования для анализа тонких слоев и покрытий = Particularities of metallographic preparation for the analysis of thin layers and coatings / А. Г. Анисович // Литье и металлургия. – 2020. – № 2. – С. 59-62. | ru |
| dc.identifier.uri | https://rep.bntu.by/handle/data/73630 | |
| dc.description.abstract | В статье рассматриваются вопросы определения толщины слоев и покрытий различного назначения при металлографическом исследовании. Продемонстрирована роль материала для заливки металлографических шлифов в определении толщины слоя. Показано, что при заливке образца пластическими массами ошибка в определении толщины слоя может составлять 0,2–0,4 мкм, что существенно для тонких слоев. Рассматриваются варианты пробоподготовки для определения толщины слоев нитрида титана толщиной 1 мкм и менее. Показано, что при оптимальном способе подготовки образца возможно визуализировать слой толщиной менее 1 мкм, а также определить его толщину в программе обработки изображений. | ru |
| dc.language.iso | ru | ru |
| dc.publisher | БНТУ | ru |
| dc.title | Особенности металлографического препарирования для анализа тонких слоев и покрытий | ru |
| dc.title.alternative | Particularities of metallographic preparation for the analysis of thin layers and coatings | ru |
| dc.type | Article | ru |
| dc.identifier.doi | 10.21122/1683-6065-2020-2-59-62 | |
| local.description.annotation | The article deals with the issues of determining the thickness of layers and coatings for various purposes in metallographic research. The role of the material for filling metallographic sections in determining the layer thickness is demonstrated. It is shown that when filling the sample with plastic masses, the error in determining the layer thickness can be 0.2...0.4 microns, which is significant for thin layers. Sample preparation options for determining the thickness of titanium nitride layers with a thickness of 1 microns or less are considered. It is shown that with the optimal method of sample preparation, it is possible to visualize a layer less than 1 microns thick, and also determine its thickness in the image processing program. | ru |
