Анализ эталонов и средств измерений, применяемых для измерения линейных параметров в нанодиапазоне
| dc.contributor.author | Егошина, Е. В. | ru |
| dc.coverage.spatial | Минск | ru |
| dc.date.accessioned | 2020-11-20T12:43:02Z | |
| dc.date.available | 2020-11-20T12:43:02Z | |
| dc.date.issued | 2019 | |
| dc.identifier.citation | Егошина, Е. В. Анализ эталонов и средств измерений, применяемых для измерения линейных параметров в нанодиапазоне / Е. В. Егошина // VIII форум вузов инженерно-технологического профиля Союзного государства : сборник материалов, г. Минск, 29 октября – 01 ноября 2019 г. / Белорусский национальный технический университет. – Минск : БНТУ, 2019. – С. 45-47. | ru |
| dc.identifier.uri | https://rep.bntu.by/handle/data/81681 | |
| dc.language.iso | ru | ru |
| dc.publisher | БНТУ | ru |
| dc.title | Анализ эталонов и средств измерений, применяемых для измерения линейных параметров в нанодиапазоне | ru |
| dc.type | Working Paper | ru |
