| dc.contributor.other | Юркевич, Н. П. | ru |
| dc.contributor.other | Кужир, П. Г. | ru |
| dc.contributor.other | Тофпенец, Р. Л. | ru |
| dc.date.accessioned | 2011-12-20T06:41:49Z | |
| dc.date.available | 2011-12-20T06:41:49Z | |
| dc.date.issued | 2004 | |
| dc.identifier.citation | Электронно-микроскопическое исследование структуры кристаллов : методические указания к лабораторной работе / Белорусский национальный технический университет, Кафедра физики ; сост. Н. П. Юркевич, П. Г. Кужир, Р. Л. Тофпенец. – Минск : БНТУ, 2004. – 19 с. : ил. | ru |
| dc.identifier.uri | https://rep.bntu.by/handle/data/817 | |
| dc.description.abstract | В методических указаниях излагаются основы метода электронной микроскопии по изучению структуры кристаллов. Представлена методика анализа картин микродифракции кристаллов. Издание предназначено для студентов инженерно-технических специальностей всех видов обучения. | ru |
| dc.language.iso | ru | ru |
| dc.publisher | БНТУ | ru |
| dc.title | Электронно-микроскопическое исследование структуры кристаллов | ru |
| dc.title.alternative | Методические указания к лабораторной работе | ru |
| dc.type | Learning Object | ru |
| dc.type | Book | |
