| dc.contributor.author | Куренкова, Т. П. | ru |
| dc.contributor.author | Возная, В. И. | ru |
| dc.coverage.spatial | Минск | ru |
| dc.date.accessioned | 2014-06-12T07:46:53Z | |
| dc.date.available | 2014-06-12T07:46:53Z | |
| dc.date.issued | 2012 | |
| dc.identifier.citation | Куренкова, Т. П. Применение растрового электронного микроскопа, оснащенного системой микроанализа для исследования качества латунного покрытия / Т. П. Куренкова, В. И. Возная // Литье и металлургия : научно-производственный журнал. – 2012. – № 3 (67). – С. 179 - 183. | ru |
| dc.identifier.uri | https://rep.bntu.by/handle/data/8195 | |
| dc.description.abstract | В данной работе предложен новый метод электронно-микроскопического наблюдения и микрорентгеноспектрального анализа латунированной заготовки, который позволяет проводить детальные исследования на микроуровне основных
параметров. | ru |
| dc.language.iso | ru | ru |
| dc.publisher | БНТУ | ru |
| dc.title | Применение растрового электронного микроскопа, оснащенного системой микроанализа для исследования качества латунного покрытия | ru |
| dc.type | Article | ru |
