Применение растрового электронного микроскопа, оснащенного системой микроанализа для исследования качества латунного покрытия

Куренкова, Т. П.; Возная, В. И.

Authors

Куренкова, Т. П.

Возная, В. И.

Date

2010

Publisher

БНТУ

xmlui.dri2xhtml.METS-1.0.item-identifier-udc

669

Bibliographic entry

Куренкова, Т. П. Применение растрового электронного микроскопа, оснащенного системой микроанализа для исследования качества латунного покрытия / Т. П. Куренкова, В. И. Возная // Литье и металлургия : научно-производственный журнал. – 2010. – № 3 (56). – С. 110 - 114.

Abstract

Предложен новый метод электронно-микроскопического наблюдения и микрорентгеноспектрального анализа латунированной заготовки, который позволяет проводить детальные исследования на микроуровне различных параметров.