| dc.contributor.advisor | | ru |
| dc.contributor.author | Пантелеев, К. В. | ru |
| dc.contributor.author | Тявловский, А. К. | ru |
| dc.contributor.author | Свистун, А. И. | ru |
| dc.contributor.author | Жарин, А. Л. | ru |
| dc.contributor.author | Самарина, А. В. | ru |
| dc.coverage.spatial | Могилев | ru |
| dc.date.accessioned | 2021-04-28T11:21:59Z | |
| dc.date.available | 2021-04-28T11:21:59Z | |
| dc.date.issued | 2016 | ru |
| dc.identifier.citation | Дефектоскопия полимерных композиционных материалов методами зондовой электрометрии = Non-destructive testing of polimer composite mate-rials by probe electrometry techniques / К. В. Пантелеев [и др.] // Современные методы и приборы контроля качества и диагностики состояния объектов : сборник статей 6-й Международной научно-технической конференции, Могилев, 19-20 сентября 2017 г. / Белорусско-Российский университет ; отв. ред. И. С. Сазонов. – Могилев : Белорусско-Российский университет, 2017. – С. 155-159. | ru |
| dc.identifier.uri | https://rep.bntu.by/handle/data/90687 | en |
| dc.description.abstract | В работе приводятся методические и экспериментальные результаты исследований влияния светового воздействия на изменение электронной подсистемы полимерных композиционных материалов. В качестве средств контроля применен сканирующий зонд Кельвина. Методика контроля основана на анализе неоднородности электропотенциального профиля и пространственного распределения фото-ЭДС. | ru |
| dc.language.iso | ru | ru |
| dc.publisher | Белорусско-Российский университет | ru |
| dc.title | Дефектоскопия полимерных композиционных материалов методами зондовой электрометрии | ru |
| dc.title.alternative | Non-destructive testing of polimer composite mate-rials by probe electrometry techniques | en |
| dc.type | Working Paper | en |
| local.description.annotation | The paper describes methodical and experimental results of studies of the light action on the electronic subsystem of polymer composites. For monitoring, the Scanning Kelvin probe is used. An analysis of the electropotential profile heterogeneity and the surface photovoltage is the basis of the control technique. | en |
