Show simple item record

dc.contributor.authorШаронов, Г. В.ru
dc.contributor.authorЖарин, А. Л.ru
dc.contributor.authorТявловский, А. К.ru
dc.contributor.authorГасенкова, И. В.ru
dc.contributor.authorМухуров, Н. И.ru
dc.coverage.spatialМинскru
dc.date.accessioned2021-06-22T15:21:37Z
dc.date.available2021-06-22T15:21:37Z
dc.date.issued2017ru
dc.identifier.citationКонтроль качества подложек из сплава алюминия неразрушающим методом контактной разности потенциалов / Г. В. Шаронов [и др.] // Прикладные проблемы оптики, информатики, радиофизики и физики конденсированного состояния : материалы IV Международной научно-практической конференции, Минск, 11-12 мая 2017 г. / ред. В. И. Попечиц. – Минск : НИИПФП им. А. Н. Севченко, 2017. – С. 290-292.ru
dc.identifier.urihttps://rep.bntu.by/handle/data/95283en
dc.description.abstractВ статье представлены результаты сравнительного исследования качества подложек из сплава АМГ-2, в том числе после обработки поверхностей алмазным наноточением. Неразрушающий контроль параметров поверхности реализован путем регистрации распределения работы выхода электрона (РВЭ) по контактной разности потенциалов с обработкой микропроцессорным измерительным преобразователем электростатических потенциалов. Соответствующее изменение РВЭ характеризует физико-химические и механические параметры поверхности подложек. Анализ значений РВЭ и их изменений по поверхности указывает на шероховатость, наличие различного типа и природы дефектов. В результате контролируется соответствие заданных эксплуатационных характеристик исходных подложек и оптимизируются технологические режимы обработки применительно к функциональным назначениям создаваемых приборов и устройств.ru
dc.language.isoruru
dc.publisherНИИПФП им. А. Н. Севченкоru
dc.titleКонтроль качества подложек из сплава алюминия неразрушающим методом контактной разности потенциаловru
dc.typeWorking Paperen


Files in this item

Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record