dc.contributor.author | Шаронов, Г. В. | ru |
dc.contributor.author | Жарин, А. Л. | ru |
dc.contributor.author | Тявловский, А. К. | ru |
dc.contributor.author | Гасенкова, И. В. | ru |
dc.contributor.author | Мухуров, Н. И. | ru |
dc.coverage.spatial | Минск | ru |
dc.date.accessioned | 2021-06-22T15:21:37Z | |
dc.date.available | 2021-06-22T15:21:37Z | |
dc.date.issued | 2017 | ru |
dc.identifier.citation | Контроль качества подложек из сплава алюминия неразрушающим методом контактной разности потенциалов / Г. В. Шаронов [и др.] // Прикладные проблемы оптики, информатики, радиофизики и физики конденсированного состояния : материалы IV Международной научно-практической конференции, Минск, 11-12 мая 2017 г. / ред. В. И. Попечиц. – Минск : НИИПФП им. А. Н. Севченко, 2017. – С. 290-292. | ru |
dc.identifier.uri | https://rep.bntu.by/handle/data/95283 | en |
dc.description.abstract | В статье представлены результаты сравнительного исследования качества подложек из сплава АМГ-2, в том числе после обработки поверхностей алмазным наноточением. Неразрушающий контроль параметров поверхности реализован путем регистрации распределения работы выхода электрона (РВЭ) по контактной разности потенциалов с обработкой микропроцессорным измерительным преобразователем электростатических потенциалов. Соответствующее изменение РВЭ характеризует физико-химические и механические параметры поверхности подложек. Анализ значений РВЭ и их изменений по поверхности указывает на шероховатость, наличие различного типа и природы дефектов. В результате контролируется соответствие заданных эксплуатационных характеристик исходных подложек и оптимизируются технологические режимы обработки применительно к функциональным назначениям создаваемых приборов и устройств. | ru |
dc.language.iso | ru | ru |
dc.publisher | НИИПФП им. А. Н. Севченко | ru |
dc.title | Контроль качества подложек из сплава алюминия неразрушающим методом контактной разности потенциалов | ru |
dc.type | Working Paper | en |