Применение туннельных переходов для контроля примесей и дефектов в полупроводниковых материалах
Bibliographic entry
Сопряков, В. И. Применение туннельных переходов для контроля примесей и дефектов в полупроводниковых материалах / В. И. Сопряков, И. А. Ранчинский // Наука - образованию, производству, экономике : материалы Шестой международной научно-технической конференции : в 3 т. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: Б. М. Хрусталев, Ф. А. Романюк, А. С. Калиниченко. – Минск : БНТУ, 2008. – Т. 1. – С. 337.