Browsing by Author "Гусев, О. К."
Now showing items 1-20 of 219
-
DDS-генератор ARDUINO
Лозюк, М. М.; Сикорская, К. В.; Гусев, О. К. (БНТУ, 2021)Лозюк, М. М. DDS-генератор ARDUINO / М. М. Лозюк, К. В. Сикорская, О. К. Гусев // Новые направления развития приборостроения : материалы 14-й Международной научно-технической конференции молодых ученых и студентов, 14–16 апреля 2021 г. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев (пред. редкол.) [и др.]. – Минск : БНТУ, 2021. – С. 37-38.2021-05-13 -
Автоматическая диагностика средств измерений параметров жидких сред
Воробей, P. И.; Гусев, О. К.; Киреенко, В. П.; Тявловский, А. К.; Тявловский, К. Л.; Яржембицкий, В. Б. (БНТУ, 2002)Автоматическая диагностика средств измерений параметров жидких сред / P. И. Воробей [и др.] // Теоретическая и прикладная механика : межведомственный сборник научно-методических статей / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: И. П. Филонов [и др.]. – Минск : Технопринт, 2002. – С. 212-216.2021-05-18 -
Алгоритм неразрушающих измерений пространственного распределения примеси железа в кремнии
Воробей, Р. И.; Гусев, О. К.; Жарин, А. Л.; Петлицкий, А. Н.; Пилипенко, В. А.; Тявловский, А. К.; Тявловский, К. Л.; Свистун, А. И. (БНТУ, 2014)Алгоритм неразрушающих измерений пространственного распределения примеси железа в кремнии / Р. И. Воробей [и др.] // Приборостроение-2014 : материалы 7-й Международной научно-технической конференции (19–21 ноября 2014 года, Минск, Республика Беларусь) / ред. колл.: О. К. Гусев [и др.]. – Минск : БНТУ, 2014. – С. 52-54.2015-03-16 -
Алгоритм определения метрологических характеристик широкодиапазонных фотоэлектрических полупроводниковых преобразователей с многозарядными примесями
Гусев, О. К.; Свистун, А. И.; Шадурская, Л. И.; Яржембицкая, Н. В. (БНТУ, 2011)Исследованы метрологические особенности фотоэлектрических полупроводниковых преобразователей (ФЭПП) на основе полупроводников с многозарядными примесями в широком диапазоне плотностей мощности оптического излучения, обусловленные процессами нелинейной рекомбинации. Предложен алгоритм процедуры определения метрологических характеристик таких ФЭПП не только при малых плотностях ...2012-03-27 -
Алгоритмы обработки визуализированных изображений при картировании дефектов полупроводниковых пластин
Тявловский, А. К.; Жарин, А. Л.; Гусев, О. К.; Воробей, Р. И.; Тявловский, К. Л.; Пантелеев, К. В.; Микитевич, В. А.; Пилипенко, В. А.; Петлицкий, А. Н. (БНТУ, 2016)Алгоритмы обработки визуализированных изображений при картировании дефектов полупроводниковых пластин / А. К. Тявловский [и др.] // Приборостроение-2016 : материалы 9-й международной научно-технической конференции, Минск, 23-25 ноября 2016 г. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. – Минск, 2016. – С. 391-393.2017-04-04 -
Анализ визуализированных изображений распределения электрофизических параметров наноструктурированных поверхностей
Гусев, О. К.; Жарин, А. Л.; Тявловский, А. К.; Тявловский, К. Л.; Воробей, Р. И.; Мухуров, Н. И. (БНТУ, 2016)Анализ визуализированных изображений распределения электрофизических параметров наноструктурированных поверхностей / О. К. Гусев [и др.] // Приборостроение-2016 : материалы 9-й международной научно-технической конференции, Минск, 23-25 ноября 2016 г. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. – Минск, 2016. – С. 46-48.2017-03-02 -
Анализ дефектов поверхности исходных подложек алюминия и его сплавов методом сканирующего зонда Кельвина
Тявловский, А. К.; Жарин, А. Л.; Гусев, О. К.; Воробей, Р. И.; Мухуров, Н. И.; Шаронов, Г. В.; Пантелеев, К. В. (БНТУ, 2017)В настоящее время использование методов зондовой электрометрии в неразрушающем контроле сдерживается сложностью интерпретации результатов измерений, что связано с многофакторностью измерительного сигнала, зависящего от большого количества параметров физико-химического состояния поверхности: отклонений химического состава, механических напряжений, дислокаций, кристаллографической ...2017-03-02 -
Анализ распределения электрофизических и фотоэлектрических свойств нанокомпозитных полимеров модифицированным зондом Кельвина
Пантелеев, К. В.; Кравцевич, А. В.; Ровба, И. А.; Лысенок, В. И.; Воробей, Р. И.; Гусев, О. К.; Жарин, А. Л. (БНТУ, 2017)В настоящее время для анализа однородности свойств материалов широкое распространение получают различные модификации сканирующего зонда Кельвина, позволяющие картировать пространственное распределение электростатического потенциала поверхности. В случае диэлектриков анализ однородности электропотенциального профиля не является достаточным для описания каких-либо конкретных ...2017-12-15 -
Артикуляционный метод оценки качества звучания речевого сигнала
Бобрикович, А.; Гусев, О. К.; Воробей, Р. И. (БНТУ, 2017)Бобрикович, А. Артикуляционный метод оценки качества звучания речевого сигнала / А. Бобрикович, О. К. Гусев, Р. И. Воробей // Новые направления развития приборостроения : материалы 10-й международной научно-технической конференции молодых ученых и студентов, Минск, 26−28 апреля 2017 г. : в 2 т. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. – ...2017-06-20 -
Базовые измерительные преобразователи дистанционных методов контроля на основе широкодиапазонных одноэлементных фотоприемников
Воробей, Р. И.; Гусев, О. К.; Свистун, А. И.; Жуковский, П.; Тявловский, А. К.; Тявловский, К. Л.; Шадурская, Л. И. (БНТУ, 2019)Базовые измерительные преобразователи дистанционных методов контроля на основе широкодиапазонных одноэлементных фотоприемников / Р. И. Воробей [и др.] // Приборостроение-2019 : материалы 12-й Международной научно-технической конференции, 13–15 ноября 2019 года, Минск, Республика Беларусь / редкол.: О. К. Гусев (председатель) [и др.]. – Минск : БНТУ, 2019. – С. 51-53.2020-01-03 -
Введение примеси-присадки в эпитаксиальный слой при твердофазном легировании
Гусев, О. К.; Воробей, Р. И.; Тявловский, К. Л.; Шадурская, Л. И. (БНТУ, 2023)Предлагается комбинированный способ легирования эпитаксиального слоя в процессе его выращивания, заключающийся в введении дополнительной примеси. По отношению к свойствам основной примеси дополнительная примесь должна вызывать противоположное по знаку изменение периода решетки матрицы. Использование комбинированного легирования уменьшает напряжение несоответствия периодов решетки ...2023-12-21 -
Визуализация распределения электропотенциала поверхности
Ардашев, Д. С.; Закорко, Н. В.; Пантелеев, К. В.; Гусев, О. К. (БНТУ, 2020)Визуализация распределения электропотенциала поверхности / Д. С. Ардашев [и др.] // Новые направления развития приборостроения : материалы 13-й Международной научно-технической конференции молодых ученых и студентов, 15−17 апреля 2020 г. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев (пред. редкол.) [и др.]. – Минск : БНТУ, 2020. – С. 100-101.2020-06-24 -
Газоразрядная эпитаксия кремниевых структур
Воробей, Р. И.; Гусев, О. К.; Тявловский, К. Л.; Шадурская, Л. И.; Свистун, А. И. (БНТУ, 2020)Газоразрядная эпитаксия кремниевых структур / Р. И. Воробей [и др.] // Приборостроение-2020 : материалы 13-й Международной научно-технической конференции, 18–20 ноября 2020 года, Минск, Республика Беларусь / редкол.: О. К. Гусев (председатель) [и др.]. – Минск : БНТУ, 2020. – С. 101-103.2021-02-09 -
Генерационно-рекомбинационный шум в фотодетекторах на основе полупроводников с многозарядными примесями и дефектами
Гусев, О. К.; Шадурская, Л. И.; Яржембицкая, Н. В (БНТУ, 2012)Гусев, О. К. Генерационно-рекомбинационный шум в фотодетекторах на основе полупроводников с многозарядными примесями и дефектами / О. К. Гусев, Л. И. Шадурская, Н. ВЯржембицкая // Наука - образованию, производству, экономике : материалы Десятой международной научно-технической конференции : в 4 т. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: Б. М. Хрусталев, Ф. ...2021-05-20 -
Геттерирование эпитаксиальных структур редкоземельными элементами
Воробей, Р. И.; Гусев, О. К.; Тявловский, К. Л.; Шадурская, Л. И.; Русакевич, Д. А. (БНТУ, 2017)Геттерирование эпитаксиальных структур редкоземельными элементами / Р. И. Воробей [и др.] // Приборостроение - 2017 : материалы 10-й Международной научно-технической конференции, 1-3 ноября 2017 года, Минск, Республика Беларусь / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. - Минск : БНТУ, 2017. - С. 73-74.2018-02-01 -
Гироскопический эффект в транспортных средствах
Скрипка, И. Н.; Свистун, А. И.; Гусев, О. К. (БНТУ, 2019)Скрипка, И. Н. Гироскопический эффект в транспортных средствах / И. Н. Скрипка, А. И. Свистун, О. К. Гусев // Новые направления развития приборостроения : материалы 12-й Международной научно-технической конференции молодых ученых и студентов, 17−19 апреля 2019 г. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев (пред. редкол.) [и др.]. – Минск : БНТУ, ...2019-08-20 -
Датчик для считывания информации
Гусев, О. К.; Киреенко, В. П.; Корженевский, А. Г.; Яржембицкий, В. Б. (1994)Датчик для считывания информации : пат. 2012008 Рос. Федерация : МПК5 G01R33/06 / О. К. Гусев [и др.] ; заявитель Белорусский политехнический институт ; дата публ.: 30.04.1994.2020-06-18 -
Датчик для считывания информации
Гусев, О. К.; Киреенко, В. П.; Корженевский, А. Г.; Яржембицкий, В. Б. (1990)Датчик для считывания информации : а. с. 1583895 СССР : МПК5 G01R33/06 / О. К. Гусев [и др.] ; заявитель Белорусский политехнический институт ; дата публ.: 07.08.1990.2020-12-29 -
Датчик индукции магнитного поля
Гусев, О. К.; Киреенко, В. П.; Корженевский, А. Г.; Яржембицкий, В. Б. (1988)Датчик индукции магнитного поля : а. с. 1406546 СССР : МПК4 G01R33/06 / О. К. Гусев [и др.] ; заявитель Белорусский политехнический институт ; дата публ.: 30.06.1988.2020-11-27 -
Диагностика измерительной системы на основе измерительных данных
Пантелеев, П. В.; Жарин, И. А.; Свистун, А. И.; Гусев, О. К. (БНТУ, 2021)Диагностика измерительной системы на основе измерительных данных / П. В. Пантелеев [и др.] // Новые направления развития приборостроения : материалы 14-й Международной научно-технической конференции молодых ученых и студентов, 14–16 апреля 2021 г. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев (пред. редкол.) [и др.]. – Минск : БНТУ, 2021. – С. 49.2021-05-13