Алгоритм определения метрологических характеристик широкодиапазонных фотоэлектрических полупроводниковых преобразователей с многозарядными примесями
Date
2011Publisher
xmlui.dri2xhtml.METS-1.0.item-identifier-udc
535.215Bibliographic entry
Гусев, О. К. Алгоритм определения метрологических характеристик широкодиапазонных фотоэлектрических полупроводниковых преобразователей с многозарядными примесями / О. К. Гусев, А. И. Свистун, Л. И. Шадурская, Н. В. Яржембицкая // Приборы и методы измерений : научно-технический журнал = Devices and methods of measurements : Scientific and Engineering Journal / гл. ред. Романюк Ф.А. ; кол. авт. Министерство образования Республики Беларусь ; кол. авт. Белорусский национальный технический университет. – Минск : БНТУ, 2011. – №2(3). – С.99–103.
Abstract
Исследованы метрологические особенности фотоэлектрических полупроводниковых
преобразователей (ФЭПП) на основе полупроводников с многозарядными примесями в широком диапазоне плотностей мощности оптического излучения, обусловленные процессами нелинейной рекомбинации. Предложен алгоритм процедуры определения метрологических характеристик таких ФЭПП не только при малых плотностях мощности
оптического излучения, но и при высоких, учитывающий границы области нелинейной
рекомбинации. Проведена оценка погрешности определения метрологических характеристик ФЭПП на основе полупроводников с многозарядными примесями с учетом перехода в область нелинейной рекомбинации.
View/ Open
Collections
- №2 ( 3 )[23]