Метод измерения параметров глубоких центров в полупроводниковых структурах в условиях сильного электрического поля
Bibliographic entry
Сопряков, В. И. Метод измерения параметров глубоких центров в полупроводниковых структурах в условиях сильного электрического поля / В. И. Сопряков, О. В. Пастухова // Наука - образованию, производству, экономике : материалы Седьмой международной научно-технической конференции : в 3 т. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: Б. М. Хрусталев, Ф. А. Романюк, А. С. Калиниченко. – Минск : БНТУ, 2009. – Т. 1. – С. 425.