Аппаратура и метод анализа переходных электрических процессов при исследованиях тепловых параметров мощных полупроводниковых приборов
Another Title
Equipment and method of analysis of transient electrical processes in studies of thermal parameters of high-power semiconductor devices
Bibliographic entry
Бумай, Ю. А. Аппаратура и метод анализа переходных электрических процессов при исследованиях тепловых параметров мощных полупроводниковых приборов = Equipment and method of analysis of transient electrical processes in studies of thermal parameters of high-power semiconductor devices / Ю. А. Бумай, О. С. Васьков, В. С. Нисс // Приборостроение-2021 : материалы 14-й Международной научно-технической конференции, 17-19 ноября 2021 года, Минск, Республика Беларусь / редкол.: О. К. Гусев (председатель) [и др.]. – Минск : БНТУ, 2021. – С. 37-39.
Abstract
Разработан импеданс- спектрометр тепловых процессов и метод, позволяющие на основе переходных электрических процессов анализировать внутреннюю структуру тепловых сопротивлений мощных полупроводниковых приборов и представлять ее в виде спектра тепловых сопротивлений, соответствующих элементам их конструкций. Разработан метод получения профилей распределения теплового потока по элементам структуры приборов.
Abstract in another language
An impedance spectrometer of thermal processes and a method have been developed, which allow analyzing the internal structure of thermal resistances of high-power semiconductor devices on the basis of transient electrical processes and presenting it in the form of a spectrum of thermal resistances corresponding to the elements of their designs. A method for obtaining heat flow distribution profiles for the elements of the device structure has been developed.