Фотоэлектрический метод контроля параметров дефектов и носителей заряда в полупроводниковых структурах
Bibliographic entry
Пастухова, О. В. Фотоэлектрический метод контроля параметров дефектов и носителей заряда в полупроводниковых структурах / О. В. Пастухова, В. И. Сопряков // Новые направления развития приборостроения : материалы 2-й Международной студенческой научно-технической конференции (22-24 апреля 2009 г.) / редкол.: В. Л. Соломахо [и др.]. – Минск : БНТУ, 2009. – С. 97.