Show simple item record

dc.contributor.authorПастухова, О. В.ru
dc.contributor.authorСопряков, В. И.ru
dc.coverage.spatialМинскru
dc.date.accessioned2022-10-26T11:01:31Z
dc.date.available2022-10-26T11:01:31Z
dc.date.issued2009
dc.identifier.citationПастухова, О. В. Фотоэлектрический метод контроля параметров дефектов и носителей заряда в полупроводниковых структурах / О. В. Пастухова, В. И. Сопряков // Новые направления развития приборостроения : материалы 2-й Международной студенческой научно-технической конференции (22-24 апреля 2009 г.) / редкол.: В. Л. Соломахо [и др.]. – Минск : БНТУ, 2009. – С. 97.ru
dc.identifier.urihttps://rep.bntu.by/handle/data/122046
dc.language.isoruru
dc.publisherБНТУru
dc.titleФотоэлектрический метод контроля параметров дефектов и носителей заряда в полупроводниковых структурахru
dc.typeWorking Paperru


Files in this item

Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record